بررسی اثر برخی از پارامترهای لایه نشانی چرخشی بر روی ضخامت پلیمر ها به روش طیف سنجی

سال انتشار: 1387
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 2,265

متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ICOPTICP15_136

تاریخ نمایه سازی: 10 دی 1387

چکیده مقاله:

لایه نازک ترکیب آلی به روش لیه نشانی چرخشی با سرعتهای چرخش گوناگون وغلظتهای گوناگون تهیه شد طیف نوری لایه ها درناحیه نورمرئی مورد مطالعه قرارگرفت ضخامت لایه ها طبق قله طیف چذبی نزدیک به nm 413 تخمین زده شد قله های جذب متناسب با سرعت چرخش و غلظت محلول مورد بررسی قرارگرفت رابطه بین ضخامت فیلم وسرعت زاویه دوران ازرابطه فرمول درمتن اصلی مقاله پیروی می کند که با نظریه مکانیسم لایه نشانی چرخشی سازگاراست با افزایش غلظت محلول لایه ضخیم تری داشتیم که این احتمالا به دلیل افزایش ویسکوزیته سیال می باشد .

نویسندگان

حجت امرالهی بیوکی

دانشکده فیزیک ، گروه اتمی مولکولی ، دانشگاه یزد

محمود برهانی زرندی

دانشکده فیزیک ، گروه اتمی مولکولی ، دانشگاه یزد

غضنفر میر جلیلی

دانشکده فیزیک ، گروه اتمی مولکولی ، دانشگاه یزد

محمد رضا ناطقی

دانشگاه آزاد اسلامی واحد یزد ، دانشکده شیمی ، یزد

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • R. Murray, P. T Edwin, V. Taburaza, J. Olin, Semicond. ...
  • B. J. J. Zelinski., D. R. Uhlmann, J. Phys. Chem. ...
  • T. M.Parrill, J. Mater. Res. , 9, 723 (1994). ...
  • T. J. Regh, J. A. Ochoa-Tapia, A. Knoesen., B.G. Higgins, ...
  • A. G. Emsile, F. T. Bonner, L. G. Peek, J. ...
  • D. Meyerhofer, J.Appl. Phys. , 49, 3993 (1978). ...
  • M. H. Jo, J. K. Hong, H. H. Park, J. ...
  • K. Vorotilov, V. Petrovsky, V. Vasiljev, J. Sol-Gel Sc. Tech. ...
  • R. K. Yonkoski, D. S. Soane, J. Appl. Phys. , ...
  • W. W. Flack, D. S. Soong, A. T. Bell, D.W. ...
  • نمایش کامل مراجع