بررسی اثر دمای زیر لایه بر ساختار ، ویژگی های الکتریکی و نوری لایه های نانو متری رسانی شفاف اکسید قلع تهیه شده با روش اسپری پایرولیزیز

سال انتشار: 1387
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,109

متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ICOPTICP15_046

تاریخ نمایه سازی: 10 دی 1387

چکیده مقاله:

ما در این مقاله به بررسی تاثیر دمای زیر لایه بر ویژگی های ساختاری نوری و الکتریکی لایه های اکسید قلع با ضخامت های نانو متری (nm200=) پرداخته ایم که با روش اسپری پایرولیزیز رشد یافته اند طرح پراش پرتو x لایه ها نشان گر ساختار بسبلوری تترا گونال است که با افزایش دمای زیر لایه از 350 تا 450c تبلور آنها از (200) به (110) رو به فزونی می گذارد اندازه گیری های نوری و الکتریکی حاکی از آن است که لایه رشد یافته در دمای 425c از بالاترین ضریب عبور (91 درصد در nm550 ) و پایین ترین مقاومت ورقه ای (cm/Ù 295 ) برخوردار است . تغییرات گاف نواری بر حسب چگالی حاملها با استفاده از فرمول بروشتین - ماس تحقیق شده است .

نویسندگان

علیرضا بی آرام

دانشکده فیزیک ، دانشگاه صنعتی شاهرود

حسین عشقی

دانشکده فیزیک ، دانشگاه صنعتی شاهرود

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • D. Sumangala, Devi Amma, V.K. Vaidyan, P.K Manoj, Material Chemistry ...
  • P.S Patil, R.K. Kawar, T. Seth, D.P. Amalnerkar, P.S. Chigare, ...
  • T. Serin, N. Serin, S. Karadeniz, H. Sar1, N. Tugluoglu, ...
  • B. D. Cullity, Elements of X-ray Diffractions, Addison Wesley, London, ...
  • R. Swanepoel, J. Phys. E. Sci. Instrum. 17, 896, (1984). ...
  • V. Vasu, A. S ubraha nanyam, Thin Solid Films 202, ...
  • E. Burstein, Phys. Rev. 93, 632, (1954). ...
  • نمایش کامل مراجع