بررسی اثر دمای سینترینگ بر روی ریز ساختار و خواص الکتریکی و ریستور های ZnO-Pr6O11 آلایش یافته با اکسید لانتانیم

وریستورهای سرامیکی اکسید روی با استفاده از روش استاندارد و با آلایش اکسیدهای Co ,Cr ,Pr و La ساخته شد. در پودر تهیه شده از اکسیدهای مذکور La2O3 با میزان 0/5%، 1/0% و 1/5% مولی آلایش یافته اند. پودر آسیاب شده را ر ˚650C به مدت 2 ساعت تکلیس نمودیم و سپس طیف XRD جهت مطالعه فازها تهیه کردیم. قرص های به ضخامت 13 میلیمتر در فشار 6 تن ساختیم که در دماهای 1250، 1300 و 1350 درجه سانتیگراد بازپخت شده اند. در نهایت نمونه ها را الکترود گذاری و منحنی E-J را رسم نموده و ضریب غیر خطی و جریان نشتی را حساب کردیم. برای ارزیابی ریز ساختار تصاویر SEM و برای تعیین ضخامت مرزدانه و اندازه دانه ها آنالیز نقطه ای EDX را تهیه نمودیم. ضخامت بین دانه ای با افزایش غلظت اکسید لانتانیم به تدریج بیشتر شد. مطالعه قرص ها نشان داد که آلایش 0/5% مولی La2O3 در دمایی بازپخت ˚1300C دارای مشخصه های بهینه است.