آنالیز حساسیت عوامل تاثیرگذار بر حرکت ارتعاشی میکروتیرک پیزوالکتریک با ناپیوستگی هندسی

سال انتشار: 1395
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 414

فایل این مقاله در 8 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

MMEE01_045

تاریخ نمایه سازی: 11 مرداد 1396

چکیده مقاله:

مهمترین قسمت یک میکروسکوپ نیروی اتمی میکروتیرک آن میباشد. دستیابی به تصاویر با کیفیت هر چه بیشتر از نمونه غوطهور در مایع، نیازمند تحلیل ارتعاش میکروتیرک در محیط مایع میباشد. در این تحقیق فرکانس تشدید مود اول میکروتیرک مرتعش در سیال بااستفاده از مدل رشتهکرهها محاسبه شده و این فرکانس نسبت به ابعاد میکروتیرک آنالیز حساسیت میشود.. بدین ترتیب تاثیر ابعاد هندسی میکروتیرک ب ر فرکانس تشدید مشخص میشود. با استفاده از این تحلیل نهایتا میتوان با انتخاب ابعاد هندسی مناسب، کاربری این نوع میکروتیرک را در محیط سیال بهینه کرد

نویسندگان

مهدی کبیری سامانی

دانشجوی کارشناسی ارشد، گروه مکانیک، دانشکده فنی و مهندسی، واحد نجف آباد، دانشگاه آزاد اسلامی، نجف آباد، ایران

رضا قادری

عضو هیات علمی گروه مکانیک، دانشکده فنی و مهندسی، واحد شهرکرد، دانشگاه آزاد اسلامی، شهرکرد، ایران-عضو هیات علمی گروه مکانیک، دانشکده فنی و مهندسی، واحد شهرکرد، دانشگاه آزاد اسلامی، شهرکرد، ایران

مجتبی کلاهدوزان

عضو هیات علمی گروه مکانیک، دانشکده فنی و مهندسی، واحد نجف آباد، دانشگاه آزاد اسلامی، نجف آباد، ایران

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • _ The First _ _ _ Engineering 21 مرداد ماه ...
  • Berger, R., Gerber, Ch., Land, H.P. and Gimzewski, J.K.، ، ...
  • Binnig, G., Quate, C.F. and Gerber, Ch.، 0 Atomic force ...
  • Morris, V.J., Kirby, A.R. and Gunning, A.P., Atomic Force Microscopy ...
  • Rugar, D. and Hansma, P.K.، 0 Atomic force microscopy , ...
  • Weisenhorn, A.L., Hansma, P.K., Aibrecht, T.R. and Quate, C.F.، ،Forces ...
  • Saenz, J.J., Garcia, N., Grutter, P., Meyer, E., Heinzelmann, H., ...
  • Martin, Y. and Wickramas inghe, H.K. :Magnetic imaging by force ...
  • Saltelli, K., Chan, E., Scott, E.M. (2000). *Sensitivity Analysis'. Wiley, ...
  • Korayem H., Ghaderi R. (2014). *Sensitivity Analysis of Nonlinear Vibration ...
  • Moosapour, M., Hajabasi, M.A., Ehteshami, H. (2012). *Frequency and Sensitivity ...
  • Korayem, M.H., Zakeri, M., Aszaeem, M.M. (2011). *Sensitivity Analysis of ...
  • Lee, H.W., Chang, W.J. (2011). *Sensitivity of V-shaped Atomic Force ...
  • نمایش کامل مراجع