ناشر تخصصی کنفرانس های ایران

لطفا کمی صبر نمایید

Publisher of Iranian Journals and Conference Proceedings

Please waite ..
CIVILICAWe Respect the Science
ناشر تخصصی کنفرانسهای ایران
عنوان
مقاله

بررسی و مدل سازی اثر ناپایداری در دمای بالا و بایاس منفی (NBTI) و تزریق حامل های پر انرژی ( HCI) در افزاره های چند گیتی نانومتری

سال انتشار: 1394
کد COI مقاله: JR_JIAE-12-2_001
زبان مقاله: فارسیمشاهد این مقاله: 187
فایل این مقاله در 14 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

خرید و دانلود فایل مقاله

با استفاده از پرداخت اینترنتی بسیار سریع و ساده می توانید اصل این مقاله را که دارای 14 صفحه است به صورت فایل PDF در اختیار داشته باشید.
آدرس ایمیل خود را در کادر زیر وارد نمایید:

مشخصات نویسندگان مقاله بررسی و مدل سازی اثر ناپایداری در دمای بالا و بایاس منفی (NBTI) و تزریق حامل های پر انرژی ( HCI) در افزاره های چند گیتی نانومتری

نیره قبادی - استادیار، دانشکده مهنسی برق و کامپیوتر، دانشگاه زنجان
علی افضلی کوشا - استاد، دانشکده مهندسی برق و کامپیوتر، دانشگاه تهران، تهران، ایران

چکیده مقاله:

در این مقاله با استفاده از روش حل چند بعدی معادلات واکنش نفوذ (R-D)، مدل هایی برای پدیده ناپایداری در دمای بالا و بایاس منفی (NBTI) در یک MOSFET سه گیتی کانال پدیده تزریق حامل های پر انرژی (HCI) در یک افزاره FinFET سه گیتی توده کانال می شود. سپس نتایج حاصل از مدل با نتایج تجربی مقایسه شده و بستگی تغییرات توان زمان در مدل با ابعاد و شکل افزاره بررسی می شود. نتایج یه دست آمده در مقاله بیانگر این است که در افزاره های سه گیتی به علت ساختار افزاره و اثر گوشه های بدنه، تولید تله در اثر پدیده های NBTI و HCI، نسبت به افزاره های MOSFET مسطح بیشتر و طول عمر افزاره کمتر می باشد. همچنین در ادامه اثر بدنه شناور روی پدیده NBTI در یک افزاره MOSFET دو گیتی با استفاده از روش حل یک بعدی معادله پواسون در ناحیه ی وارونگی مدل می شود و با حالت وجود اتصال بدنه مقایسه می شود. نتایج حاصل با استفاده از روش حل عددی FDM تایید می شود و نتایج حاصل بیانگر این است که به علت تجمع الکترون های حاصل از تولید تله ها در اثر پدیده NBTI در بدنه شناور و اثر این الکترون ها در کاهش میدان اکسید، اثر این پدیده در افزاره های دارای بدنه شناور کم شده و طول عمر افزاره افزایش می یابد.

کلیدواژه ها:

ناپایداری در دمای بالا و بایاس منفی (NBTI)، تزریق حامل های پر انرژی (HCI)، افزاره های چند گیتی، مدل واکنش نفوذ (R-D)، اثر بدنه شناور، معادله پواسون

کد مقاله/لینک ثابت به این مقاله

برای لینک دهی به این مقاله می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت مقاله در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:

https://civilica.com/doc/604284/

نحوه استناد به مقاله:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
قبادی، نیره و افضلی کوشا، علی،1394،بررسی و مدل سازی اثر ناپایداری در دمای بالا و بایاس منفی (NBTI) و تزریق حامل های پر انرژی ( HCI) در افزاره های چند گیتی نانومتری،،،،،https://civilica.com/doc/604284

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این مقاله اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (1394، قبادی، نیره؛ علی افضلی کوشا)
برای بار دوم به بعد: (1394، قبادی؛ افضلی کوشا)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

مدیریت اطلاعات پژوهشی

صدور گواهی نمایه سازی | گزارش اشکال مقاله | من نویسنده این مقاله هستم

اطلاعات استنادی این مقاله را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

علم سنجی و رتبه بندی مقاله

مشخصات مرکز تولید کننده این مقاله به صورت زیر است:
نوع مرکز: دانشگاه دولتی
تعداد مقالات: 8,192
در بخش علم سنجی پایگاه سیویلیکا می توانید رتبه بندی علمی مراکز دانشگاهی و پژوهشی کشور را بر اساس آمار مقالات نمایه شده مشاهده نمایید.

مقالات مرتبط جدید

به اشتراک گذاری این صفحه

اطلاعات بیشتر درباره COI

COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.

پشتیبانی