ارزیابی زبری سطح نانولایه های پلی آکریلونیتریل

هدف اصلی این پژوهش، بررسی زبری سطح لایه های حاصل از نانو الیاف پلی آکریلونیتریل(PAN) است. به این منظور، با تغییر غلظت، محلول PAN از 11 به 15 درصد وزنی لایه هایی از نانو لایه PAN تهیه شد. سپس با استفاده از روش آنتروپی (ENT) و میکروسکوپی نیروی اتمی (AFM) زبری سطح لایه ها اندازه گیری و نتایج حاصل از دو روش مقایسه شد. برای ارزیابی زبری سطح با استفاده از روش AFM مشخصه های زبری شامل بیشینه ارتفاع تصویر، متوسط ارتفاع ده نقطه، میانگین حسابی زبری و جذر میانگین مربعات زبری محاسبه و از مشخصه میانگین حسابی زبری به عنوان شاخص زبری سطح استفاده شد. با توجه به نتایج مشاهده شد که افزایش غلظت محلول PAN از 11 به 15 درصد وزنی، منجر به افزایش قطر الیاف در نانو لایه حاصل از 195 به 524MM شده است. همچنین نتایج به دست آمده از اندازه گیری زبری سطح به هر دو روش AFM وENT نشان دهنده افزایش زبری سطح لایه ها با افزایش قطر الیاف تشکیل دهنده آنهاست . در بررسی های آماری انجام شده ملاحظه شد که ضریب همبستگی بین نتایج زبری سطح حاصل از هر دو روش و قطر نانو الیاف بیش از 0/9است. همچنین مشاهده شد بین زبری سطح به دست آمده از دو روش از نظر آماری توافق خوبی وجود دارد.

کلیدواژه ها:

نانولایه ، زبری سطح ، میکروسکوپی ، نیروی اتمی ، آنتروپی ، پلی آکریلونیتریل