پردازش تصاویر میکروسکوپی الکترون عبوری (TEM) برای کمی سازی میزان پخش لایه های سیلیکاتی در نانو کامپوزیت های پلیمر - خاک رس
محل انتشار: دوازدهمین کنگره ملی مهندسی شیمی ایران
سال انتشار: 1387
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,529
فایل این مقاله در 15 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
NICEC12_717
تاریخ نمایه سازی: 30 شهریور 1387
چکیده مقاله:
میزان پخش لایه های سیلیکاتی در ماتریس پلیمری ، برای بررسی خواص این نانو کامپوزیت ها مورد نیاز است . در تحقیق حاضر ، یک روش جدید جهت کمی سازی میزان پخش لایه های سیلیکاتی خاک رس در ماتریس پلیمر ، توسط پردازش تصاویر میکروسکوپی عبوری (TEM) ارائه شده است . در این روش ریال تعیین دقیق ساختارهای مختلف ورقه ای (Exfoliation) ، جایگیری بین لایه ای (Intercalation) و امتزاج ناپذیر (Immiscible) موجود در تصاویر میکروسکوپی عبوری امکان پذیر می باشد . تصاویر TEM مربوط به چندین نمونه نانو کامپوزیت با ساختار ورقه ای ، جایگزین بین لایه ای و امتزاج ناپذیر ، در زمینه های مختلف پلیمری مورد مطالعه قرار گرفت و میزان ورقه ای شدن ، جایگیری بین لایه ای و امتزاج ناپذیری لایه های سیلیکاتی ، مستقل از مقدار این لایه ها ، از طریق پردازش تصاویر میکروسکوپی عبوری تعیین گردید . مشخص شد که نتایج کمی حاصل از این کار با الگوهای پراش پرتوX (XRD) و روش های ارائه شده توسط محققان دیگر ، مطابقت دارد .
کلیدواژه ها:
نویسندگان
کاظم مجدزاده اردکانی
دانشگاه اصفهان ، دانشکده فنی و مهندسی ، گروه مهندسی شیمی
امیر حسین نوارچیان
دانشگاه اصفهان ، دانشکده فنی و مهندسی ، گروه مهندسی شیمی
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :