اندازه گیری زمان در مدارهای سوئیچینگ سریع بوسیله مدارهای دوگانه

سال انتشار: 1394
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 565

فایل این مقاله در 15 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

EMAA04_014

تاریخ نمایه سازی: 12 تیر 1395

چکیده مقاله:

دراندازه گیری متداول زمان مربوط به مدارهای سوئیچینگ سریع، اگر سیگنالهای شروع و اتمام مشخصه زمان، شبیه نباشند، خطاهای سیستماتیک زمانی (خطای زمانی ناشی از دامنه و شیب صعود سیگنال پالسی) رخ می دهد. به این خطاهای زمانی، باید خطای ناشی از نویز دامنه کانال که باعث افزایش خطای اندازه گیری زمان می شود، نیز افزود. خطای دامنه که قابل توجه و محسوس است، بوسیلهConstant Fraction Trigger (CFT)با استفاده از روش تشکیل نقطه دامنه صفر، کاملا میتواند از بین برود. معمولا اساس CFT بر سیگنالهای ولتاژ بنا شده است که پهنای باند ان با اندازه مقاومتهای مدار و خازنهای پارازیت مربوطه محدود می شود که افزایش خطای اندازه گیری زمان را در پی دارد افزایش تاثیر خازنهای پارازیت ناخواسته در مدارهای میکروالکترونیک مدرن اجتناب ناپذیر است. در مدارهای دیجیتالهای پیچیده با فیدبک؛ اختلاف زمانی بین ورودی و خروجی منجر به پالسهای مزاحم مانند glitch می گردد مدارهای CFT در کمینه کردن این سیگنالهای مزاحم نقش مهمی دارند. د راین مقاله CFT وآشکارسازی دامنه صفر آن برای سیگنالهای جریان معرفی طراحی ساخته و تست می شود.

کلیدواژه ها:

جریان آستانه بالایی و پائینی ، آشکار ساز جریان صفر ، سیگنالهای شروع و اتمام CFT

نویسندگان

محمد رضا متولی کسمائی

استادیار، گروه مهندسی برق )مخابرات(، دانشکده فنی و مهندسی، دانشگاه قم، ایران

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • . M. R. Motavalli, G. Nowack, Digital Measuremet of the ...
  • . J. H. Romanski, reduction of time Error by pressure ...
  • . the TTL Data Book for Design Engineers, TEXAS INSTRUMENT ...
  • /4]. Hoebusch, G. Nowack, Circuit design using dual transformation, M.Sc. ...
  • /5]. Dullenkopf, Electronic Measurement, Book, Chapter 4, Stuttgart, Germany, 1999 ...
  • . U. Tietze, Ch. Schenk, Semiconductor Circuit Technique, Book, Chapter ...
  • نمایش کامل مراجع