A Combined Method to Improve Sequential Circuit Test Generation

سال انتشار: 1382
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: انگلیسی
مشاهده: 2,116

فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ACCSI09_101

تاریخ نمایه سازی: 4 بهمن 1386

چکیده مقاله:

This paper proposes a combined method for sequential circuit test generation which employs STGbased and GA-based test generation techniques. Almost all previous hybrid test generators use algorithmic decomposition, but the proposed method uses circuit decomposition. So the STG-based techniques are used to generate test for control unit and test generation for datapath unit is performed by resorting to GA-based techniques. The combination of the two techniques is expected to provide high fault coverages in a reasonable time. Experimental results show the effectiveness of the approach.

نویسندگان

Roohollah Mohammadkhani

Department of Computer Engineering Sharif University of Technology Tehran, Iran

Shaahin Hessabi

Department of Computer Engineering Sharif University of Technology Tehran, Iran

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • T. _ Niermann, J. H. Patel, 4HITEC: A Test Generation ...
  • T. P. Kesley, K. K. Saluja, S. Y. Lee, ، ...
  • I. Hamzaoglu, J. H. Patel, ،، Deterministic Test Pattern Generation ...
  • R. Guo, S. M. Reddy, I. Pomeranz, _ Improving a ...
  • D. G. Saab, Y. G. Saab J. A. Abraham, 44CRIS: ...
  • H.-K. T. Ma, S. Devadas, and A. Sangiovanni- Vincente lli, ...
  • A. Ghosh, S. Devadas, A. R. Newton, ، Test Generation ...
  • H. Cho, G. D. Hatchel, F. Somenzi, *Redundancy Identi fic ...
  • E. M. Rudnick, J. H. Patel, *Combining Deterministic and Genetic ...
  • D. Corvino, _ Epicoco, f. Ferrandi, F. Fummi, and D. ...
  • M. S. Hsiao, *Sequential Test Generation Using Genetic Methods, ' ...
  • X. Yu, A. Fin, F. Fummi, E. M. Rudnick, ، ...
  • نمایش کامل مراجع