پیاده سازی روشهای تست مبدلهای آنالوگ به دیجیتال در نرم افزار MATLAB

سال انتشار: 1384
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 3,200

فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ICEE13_002

تاریخ نمایه سازی: 27 آبان 1386

چکیده مقاله:

در این مقاله استفاده از شبکه های عصبی را به عنوان روشی جدید برای تست و تشخیص خطا در ADC ها معرفی کرده و آنرا به همراه دیگر روشهای تست ADC ها، در نرم افزارMATLAB پیاده سازی می کنیم . سپس قابلیت تشخیص و تعیین مکان وقوع خطا در آنها را مقایسه می نماییم . مدلهای خطای stuck_at_0 ، stuck_at_1 ، مدار باز، خطای پل و خطای تلرانس به مدار یک 3 ADC بیتی از نوع flash اعمال گردید ند و بانکهای خطا ایجاد شد . روش هیستوگرام مقدار INL وDNL مبدل را محاسبه کرده و می تواند وجود خطا را تشخ یص دهد . در روش FFT مولفه های ناخواسته در طیف خروجی ، وجود خطا را نشان می دهند . در روش sine fit تعداد موثر بیتها محاسبه شده و از روی آن می توان خطا در ADC را جستجو نمود . هر سه روش فوق قدرت بالایی در تشخیص خطا دارند ولی نمی توانند مانند شبکه عصبی محل رخ دادن خطا را جستجو کنند . در نتیجه استفاده از شبکه های عصبی می تواند نقش مهمی در تشخیص و تعیین محل وقوع خطا داشته باشد

کلیدواژه ها:

مبدل آنالوگ به دیجیتال ، تست ، شبکه های عصبی ، sine fit ، هیستوگرام

نویسندگان

کریم محمدی

دانشگاه علم و صنعت ایران

سیدجواد سیدمهدوی چابک

دانشگاه علم و صنعت ایران

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • J. Starzyk, J. Pang, "Fault Diagnosis in Analog and Mixed ...
  • Peter B.L. Meijer, "Neural Networks for Device and Circuit Modeling", ...
  • P. Arpaia, F. Cennamo, P. Daponte, "Metrological ch aracterization of ...
  • maxim S e miconductor, "The ABCs of ADCs, Understan ding ...
  • Kent H. Lundberg, _ Analog- to-Digital Converter testing", 2002, _ ...
  • J. Feddeler , Bill Lucas, "ADC Definitions and Specifications ", ...
  • Samiha Mourad, Yervant Zorian, Principles of Testing Electronic Systems, John ...
  • Mohammad. K., Mohseni. A. R., "Fault diagnosis of analog circuits ...
  • Ying Deng; Yigang He; Yichuang Sun, "Fault diagnosis of analog ...
  • F. Azais, S. Bernard, Y. Bertrand, M. Renovell, "Towards an ...
  • M. Renovell, F. Azais, S. Bernard, Y. Bertrand, "Hardware Resource ...
  • Zanjan, Iran, May 10-12, 2005. ...
  • نمایش کامل مراجع