سنتز و ارزیابی سیلیکات روی به روش سل-ژل

در این پژوهش، سیلیکات روی با استفاده از روش سل-ژل و مواد اولیه نیترات روی و تترا اتیل ارتو سیلیکات (TEOS) سنتز شد. بررسی پراش پرتو ایکس (XRD) نشان داد که با افزایش دمای کلسینه سازی تا ۱۳۰۰ درجه سانتی گراد فازهای کریستالی سیلیکات روی به طور قابل توجهی افزایش یافته و نانوذرات تشکیل شده دارای ساختار بلوری رمبوهدرال و ترکیب شیمیایی ZnSiO۴ هستند. الگوی XRD این پودر با الگوی استاندارد (۲۰۰۵-۰۷-۰۱: Reference code) انطباق دارد و پیک های اصلی در زوایای ۳۳.۹۸ و ۲۵.۵۲ مشاهده شده اند که انطباق خوبی با الگوی مرجع دارند. همچنین تصاویر میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (FESEM) نشان داد که اندازه دانه ها در محدوده ۱۳ تا ۱۶ نانومتر قرار دارند. نتایج طیف سنجی زیر قرمز تبدیل فوریه (FTIR) نیز حضور پیوندهای شیمیایی Si-O-Si و Si-O-Zn را تایید کرد که این پیوندها نقش مهمی در بهبود خواص مکانیکی و حرارتی ماده دارند. این تحقیق نشان می دهد که سیلیکات روی با خلوص بالا و خواص بهینه پتانسیل بالایی برای کاربرد در حوزه های نانومواد به ویژه در صنایع نوری و الکترونیکی دارد.

کلیدواژه ها:

سیلیکات روی ، روش سل-ژل ، نانوذرات