ناشر تخصصی کنفرانس های ایران

لطفا کمی صبر نمایید

Publisher of Iranian Journals and Conference Proceedings

Please waite ..
ناشر تخصصی کنفرانسهای ایران
ورود |عضویت رایگان |راهنمای سایت |عضویت کتابخانه ها
عنوان
مقاله

تعیین ضرایب اپتیکی لایه های نازک با استفاده ازروش R,T

سال انتشار: 1384
کد COI مقاله: IPC84_103
زبان مقاله: فارسیمشاهده این مقاله: 1,299
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

خرید و دانلود فایل مقاله

متن کامل (فول تکست) این مقاله منتشر نشده و یا در سایت موجود نیست و امکان خرید آن فراهم نمی باشد.

مشخصات نویسندگان مقاله تعیین ضرایب اپتیکی لایه های نازک با استفاده ازروش R,T

معصومه حیدری - دانشگاه الزهرا گروه فیزیک
عبدالله مرتضی علی - دانشگاه الزهرا گروه فیزیک

چکیده مقاله:

در این مقاله روش R, T ( بازتاب و عبور ) را برای محاسبه ضرایب اپتیکی مختلط (k 1 و n 1) لایه نازک فلزی انباشت شده بر روی زیر لایه ای که در بازه طول موج 400 الی 3000 نانو متر تقریبا غیر جاذب است، به کار می بریم. در اینرش برایرتو فرودی غیر پلاریزه با طول موجλ ، پربندهای (T,R) های ثابت را در (k1 , n1) رسم می کنیم. (k1,n1) های به دست آمده از این پربندها مقادیر یکتایی ندارند . در این مقاله روشی ارائه داده ایم که بر اساس آن مقادیر یکتایی از (k1,n1) ها را به دست اورده ایم که با (k1,n1) های حاصل از روش تجربی و همچنین روش کرایمرز - کرونیگ)K,K) توافق خوبی دارند

کد مقاله/لینک ثابت به این مقاله

کد یکتای اختصاصی (COI) این مقاله در پایگاه سیویلیکا IPC84_103 میباشد و برای لینک دهی به این مقاله می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت مقاله در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:

https://civilica.com/doc/26080/

نحوه استناد به مقاله:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
حیدری، معصومه و مرتضی علی، عبدالله،1384،تعیین ضرایب اپتیکی لایه های نازک با استفاده ازروش R,T،کنفرانس فیزیک ایران ۱۳۸۴،خرم آباد،،،https://civilica.com/doc/26080

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این مقاله اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (1384، حیدری، معصومه؛ عبدالله مرتضی علی)
برای بار دوم به بعد: (1384، حیدری؛ مرتضی علی)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :

  • O. S _ He aven s;'Optical properties of Thin Solid ...
  • Zhuomin M.Zhang ;^ Optical properties of a slightly absorbing fi, ...
  • J-J Chen, J-D Lin, L-J sheu ; _ ;Simultaneous measuremment ...
  • H.J. Hagemann , W. Gudat and C . Kunz, J. ...
  • H .Yazdanpanah Asrami , A. Morteza Ali ; Thichness dependences ...
  • مدیریت اطلاعات پژوهشی

    صدور گواهی نمایه سازی | گزارش اشکال مقاله | من نویسنده این مقاله هستم

    اطلاعات استنادی این مقاله را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

    علم سنجی و رتبه بندی مقاله

    مشخصات مرکز تولید کننده این مقاله به صورت زیر است:
    نوع مرکز: دانشگاه دولتی
    تعداد مقالات: 6,046
    در بخش علم سنجی پایگاه سیویلیکا می توانید رتبه بندی علمی مراکز دانشگاهی و پژوهشی کشور را بر اساس آمار مقالات نمایه شده مشاهده نمایید.

    مقالات پیشنهادی مرتبط

    مقالات مرتبط جدید

    به اشتراک گذاری این صفحه

    اطلاعات بیشتر درباره COI

    COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

    کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.

    پشتیبانی