مطالعه ی بستگی زبری سطوح لایه های نازک Pt به چگالی جریان رشد به کمک میکروسکوپ نیروی اتمی

در این کار لایهی نازک پلاتین به ضخامت 500 nm به روش الکتروانباشت که روشی ارزان و در دسترس است روی زیرلایه طلا رشد داده شد . پارامتری که تأثیر آن بـر روی ساختار سطح، بررسی شد، چگالی جریان انباشت ( که متناظر با آهنگ انباشت است ) میباشد . سپس ریشهی میانگین مربعی زبری (w ) و همچنین مرتبه ی زبری ( α ) اندازهگیری و برای نمونه های مختلف مقایسه شد که به کمک آن چگونگی تغییر w و α با تغییر آهنگ انباشت حاصل گردیـد . مـشخص شـد کـه w بـا افـزایش آهنـگ انباشت، افزایش می یابد؛ که نشان دهنده ی افزایش تغییرات ارتفاع نقاط مختلف نسبت به یک سطح مرجع و در نتیجه زبر شدن آن است . همچنین α نیز با افزایش آهنـگ انباشت افزایش مییابد که نشان دهندهی " ملایم " شدن تغییرات ارتفاع برای نقاط همسایه و در نتیجه موجی شدن سطح است .