Sensitivity Analysis of AFM Piezoelectric MC in Electromagnetic Excitation
سال انتشار: 1404
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: انگلیسی
مشاهده: 24
نسخه کامل این مقاله ارائه نشده است و در دسترس نمی باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
JR_ADMTL-18-4_003
تاریخ نمایه سازی: 2 دی 1404
کلیدواژه ها:
Atomic Force Microscopes (AFM)
نویسندگان
Ahmad Haghani
Department of Mechanics, Shahrekord Branch, Islamic Azad University, Shahrekord, Iran
Reza Ghaderi
Department of Mechanical Engineering, Shahrekord Branch, Islamic Azad University, Shahrekord, Iran