ناشر تخصصی کنفرانس های ایران

لطفا کمی صبر نمایید
CIVILICAWe Respect the Science
ناشر تخصصی کنفرانسهای ایران
عنوان
مقاله

مدل سازی دوسامانه نانومترولوژی برمبنای روش فرکانس - مسیر

تعداد صفحات: 4 | تعداد نمایش خلاصه: 439 | نظرات: 0
سال انتشار: 1392
کد COI مقاله: BSNANO03_052
زبان مقاله: فارسی
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

راهنمای دانلود فایل کامل این مقاله

متن کامل این مقاله منتشر نشده و در پایگاه سیویلیکا موجود نمی باشد.

منبع مقالات سیویلیکا دبیرخانه کنفرانس ها و مجلات می باشد. برخی دبیرخانه ها اقدام به انتشار اصل مقاله نمی نمایند.به منظور تکمیل بانک مقالات موجود چکیده این مقالات در سایت درج می شوند ولی به دلیل عدم انتشار اصل مقاله امکان ارائه آن وجود ندارد.

خرید و دانلود فایل مقاله

متن کامل (فول تکست) این مقاله منتشر نشده و یا در سایت موجود نیست و امکان خرید آن فراهم نمی باشد.

مشخصات نویسندگان مقاله مدل سازی دوسامانه نانومترولوژی برمبنای روش فرکانس - مسیر

سعید علیائی - دانشگاه تربیت دبیر شهید رجایی تهران
زهرا دشتبان - دانشگاه تربیت دبیر شهید رجایی تهران

چکیده مقاله:

دراین مقاله ضمن طراحی مدلسازی و تحلیل دوسامانه نانومترولوژی با استفاده ازمدل فرکانس - مسربه مقایسه ای بین تداخل سنج دومودمعمولی و تداخل سنج سه مودبهبود یافته پرداخته میشود ازاین مدل برای تحلیل خطای غیرخطی متناوب استفاده میشود تعدادعبارات تداخلی ازتعدادمسیرها و فرکانسها بدست می اید که این عبارات صرفنظر ازارایش تداخل سنج به چهارگروه توان نوری تداخلAC تداخل DC و مرجع AC تقسیم بندی میشوند باتوجهبه نتایج تحلیل انجام شده اگرچه قابلیت تفکیک پذیری درتداخل سنج سوپرهتروداین سه مودچهاربرابر شده است اما مولفه های جریانی به 21 افزایش یافته است درحالیکه تعداد مولفه های جریانی نوع هتروداین دومودی برابر10 است

کلیدواژه ها:

نانومترولوژي، تداخل سنج هتروداين ليزري، تداخل سنج سوپرهتروداين ليزري، مدل فركانس - مسير

کد مقاله/لینک ثابت به این مقاله

برای لینک دهی به این مقاله می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت مقاله در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:

https://civilica.com/doc/229645/

کد COI مقاله: BSNANO03_052

نحوه استناد به مقاله:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
علیائی، سعید و دشتبان، زهرا،1392،مدل سازی دوسامانه نانومترولوژی برمبنای روش فرکانس - مسیر،سومین همایش سراسری کاربردهای دفاعی علوم نانو،تهران،،،https://civilica.com/doc/229645

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این مقاله اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (1392، علیائی، سعید؛ زهرا دشتبان)
برای بار دوم به بعد: (1392، علیائی؛ دشتبان)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود ممقالهقاله لینک شده اند :

  • C. M. Sutton, "Non-linearity in length measurement using heterodyne laser ...
  • Y. Bitou, "Polarization Mixing Error Reduction in a Two-Beam Interferometer ...
  • W. Hou, "Optical parts and the nonlinearity in i n ...
  • Entgineering, _ 337-346, 2006. ...
  • S. Olyaee, T. H. Yoon and S. Hamedi, :Jones matrix ...
  • interferometerc _ IET Op toelectronics, Vol. 3, No. 5, pp. ...
  • S. Olyaee and S. Hamedi, _ low -nonlinearity with ...
  • quadrupled resolution in the displacement me surement , The Arabian ...
  • T. L. Schmitz and J. F. Beckwith, _ investigation of ...
  • S. Olyaee and S. M. Nejad, :Error analysis, improved ...
  • heterodyne n an o-displacement interferometer ", Iranian Journal of Electrical ...
  • S. Olyaee and S. M. Nejad, _ _ Fre quency-Path ...
  • Interferometer _ IEEE Circuit and Systems Society, ICECS, Nice, France, ...
  • مدیریت اطلاعات پژوهشی

    صدور گواهی نمایه سازی | گزارش اشکال مقاله

    اطلاعات استنادی این مقاله را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

    علم سنجی و رتبه بندی مقاله

    مشخصات مرکز تولید کننده این مقاله به صورت زیر است:
    نوع مرکز: دانشگاه دولتی
    تعداد مقالات: 3,706
    در بخش علم سنجی پایگاه سیویلیکا می توانید رتبه بندی علمی مراکز دانشگاهی و پژوهشی کشور را بر اساس آمار مقالات نمایه شده مشاهده نمایید.

    مقالات مرتبط جدید

    به اشتراک گذاری این صفحه

    اطلاعات بیشتر درباره COI

    COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

    کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.

    پشتیبانی