سیویلیکا را در شبکه های اجتماعی دنبال نمایید.

مدل سازی دوسامانه نانومترولوژی برمبنای روش فرکانس - مسیر

سال انتشار: 1392
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 887

متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دانلود نمایند.

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

BSNANO03_052

تاریخ نمایه سازی: 9 بهمن 1392

چکیده مقاله مدل سازی دوسامانه نانومترولوژی برمبنای روش فرکانس - مسیر

دراین مقاله ضمن طراحی مدلسازی و تحلیل دوسامانه نانومترولوژی با استفاده ازمدل فرکانس - مسربه مقایسه ای بین تداخل سنج دومودمعمولی و تداخل سنج سه مودبهبود یافته پرداخته میشود ازاین مدل برای تحلیل خطای غیرخطی متناوب استفاده میشود تعدادعبارات تداخلی ازتعدادمسیرها و فرکانسها بدست می اید که این عبارات صرفنظر ازارایش تداخل سنج به چهارگروه توان نوری تداخلAC تداخل DC و مرجع AC تقسیم بندی میشوند باتوجهبه نتایج تحلیل انجام شده اگرچه قابلیت تفکیک پذیری درتداخل سنج سوپرهتروداین سه مودچهاربرابر شده است اما مولفه های جریانی به 21 افزایش یافته است درحالیکه تعداد مولفه های جریانی نوع هتروداین دومودی برابر10 است

کلیدواژه های مدل سازی دوسامانه نانومترولوژی برمبنای روش فرکانس - مسیر:

نانومترولوژی ، تداخل سنج هتروداین لیزری ، تداخل سنج سوپرهتروداین لیزری ، مدل فرکانس - مسیر

نویسندگان مقاله مدل سازی دوسامانه نانومترولوژی برمبنای روش فرکانس - مسیر

سعید علیائی

دانشگاه تربیت دبیر شهید رجایی تهران

زهرا دشتبان

دانشگاه تربیت دبیر شهید رجایی تهران

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
C. M. Sutton, "Non-linearity in length measurement using heterodyne laser ...
Y. Bitou, "Polarization Mixing Error Reduction in a Two-Beam Interferometer ...
W. Hou, "Optical parts and the nonlinearity in i n ...
Entgineering, _ 337-346, 2006. ...
S. Olyaee, T. H. Yoon and S. Hamedi, :Jones matrix ...
interferometerc _ IET Op toelectronics, Vol. 3, No. 5, pp. ...
S. Olyaee and S. Hamedi, _ low -nonlinearity with ...
quadrupled resolution in the displacement me surement , The Arabian ...
T. L. Schmitz and J. F. Beckwith, _ investigation of ...
S. Olyaee and S. M. Nejad, :Error analysis, improved ...
heterodyne n an o-displacement interferometer ", Iranian Journal of Electrical ...
S. Olyaee and S. M. Nejad, _ _ Fre quency-Path ...
Interferometer _ IEEE Circuit and Systems Society, ICECS, Nice, France, ...
نمایش کامل مراجع

مقاله فارسی "مدل سازی دوسامانه نانومترولوژی برمبنای روش فرکانس - مسیر" توسط سعید علیائی، دانشگاه تربیت دبیر شهید رجایی تهران؛ زهرا دشتبان، دانشگاه تربیت دبیر شهید رجایی تهران نوشته شده و در سال 1392 پس از تایید کمیته علمی سومین همایش سراسری کاربردهای دفاعی علوم نانو پذیرفته شده است. کلمات کلیدی استفاده شده در این مقاله نانومترولوژی، تداخل سنج هتروداین لیزری، تداخل سنج سوپرهتروداین لیزری، مدل فرکانس - مسیر هستند. این مقاله در تاریخ 9 بهمن 1392 توسط سیویلیکا نمایه سازی و منتشر شده است و تاکنون 887 بار صفحه این مقاله مشاهده شده است. در چکیده این مقاله اشاره شده است که دراین مقاله ضمن طراحی مدلسازی و تحلیل دوسامانه نانومترولوژی با استفاده ازمدل فرکانس - مسربه مقایسه ای بین تداخل سنج دومودمعمولی و تداخل سنج سه مودبهبود یافته پرداخته میشود ازاین مدل برای تحلیل خطای غیرخطی متناوب استفاده میشود تعدادعبارات تداخلی ازتعدادمسیرها و فرکانسها بدست می اید که این عبارات صرفنظر ازارایش تداخل سنج به چهارگروه توان نوری تداخلAC تداخل DC ... . برای دانلود فایل کامل مقاله مدل سازی دوسامانه نانومترولوژی برمبنای روش فرکانس - مسیر با 4 صفحه به فرمت PDF، میتوانید از طریق بخش "دانلود فایل کامل" اقدام نمایید.