بررسی اثر افزایش دما بر ویسکوزیته سل V2O5 و تاثیر آن بر خصوصیات اپتیکی و مرفولوژیکی لایههای نازک V2O5 تهیه شده به روش سل - ژل

سال انتشار: 1386
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 2,791

متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

IPC86_235

تاریخ نمایه سازی: 20 دی 1385

چکیده مقاله:

در این تحقیق لایه های نازک اکسید وانادیوم ) ) V2O5 با استفاده از روش سل - ژل از طریق انحلال پودر وانادیوم پنتاکسید ) ) V2O5 در محلول پراکسید هیدروژن پانزده درصد ) ) H2O2 %15 تهیه شدند . برای این کار 3 gr پودر ) ) V2O5 را در 300 ml پراکسید هیدروژن حل کردیم و بـا تقـسیم آن بـه سـه قـسمت در دماهـای 60 ، 75 و 90 0 C تحت عملیات گرمایش قرار دادیم تا سل های مناسب تهیه شدند . به منظور بررسی خصوصیات اپتیکی از این سل ها جهت تهیه پوشش دهـی بـر بـسترهای d, α, ( تحت عملیات گرمایش قرار گرفتند . تعیین ثابتهای اپتیکی لایه هـا 150 0 C شیشه ای با استفاده از تکنیک غوطه وری استفاده شد و در نهایت لایه ها در دمای ( با استفاده از روش بهینه سازی و تنها با استفاده از طیف تراگسیلی لایهها صورت گرفت . نتایج بدست آمده نشان میدهد با افزایش ویسکوزیته، ضریب جذب n, Eg2/3 eV و ضخامت لایهها افزایش یافته و ضریب شکست لایهها کاهش مییابد . گاف نواری انرژی بدست آمده برای لایههای نازک اکسید وانادیوم در این تحقیـق محاسبه شده است . نتایج میکروسکوپ پروبی روبشی نشان می دهد افزایش ویسکوزیته باعث افزایش پارامترهای زبری لایه می شود . نقش پراش پرتو ایکس ( XRD ( نشان میدهد ساختار پودر تهیه شده در دمای 450 0 C پلی کریستالی است .

نویسندگان

رضا شموسی محمدزاده

گروه فیزیک دانشکده علوم، دانشگاه گیلان

فرهاد اسمعیلی قدسی

گروه فیزیک دانشکده علوم، دانشگاه گیلان

عادل شجاعی

مربی دانشگاه آزاد اسلامی واحد بهبهان

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • Fritz Huhuenin, Emerson M. Girotto, Roberto M. Torresi, Daniel A.Buttry, ...
  • Angela Surca, Boris Orel., E lectrochimica Acta 44 (1999) 3051-3057. ...
  • Ernesto G.Birgin, Ivan E. Chambo leyron Jose Mario Martinez, Sergio ...
  • Surface Review and Letters, Vol. 12. Nos.5-6 (2005) 793-797. ...
  • M.Ben Moussa, A.Outzourhit, R.Jourdani; Active and passive Elec. Comp; December ...
  • نمایش کامل مراجع