بررسی و محاسبه ثابتهای نوری لایه های نانو بلوری اکسید روی با استفاده از منحنی عبور نوری

لایه های نانو بلوری اکسید روی با استفاده از سیستم کندوپاش RF بر روی زیر لایه شیشه و بدون گرمادهی زیر لایه در محیط گاز آرگون لایه نشانی شده اند . با استفاده از آنالیز پراش اشعه (XRD) X و آنالیز میکروسکوپ الکترونی (SEM) ساختار بلوری و ساختار سطحی لایههای نانو بلوری اکسید روی بررسی گردیده است . لایه های اکسید روی در محیط گاز آرگون و اکسیژن گرمادهی شده و طیف عبور نوری آنها به کمک آنالیز FTIR بدست آمده است . آنالیز XRD افزایش اندازه دانه های اکسید روی و جهت گیری غالب (002) را پس از گرمادهی در دمای 400 °C نشان می دهد . با استفاده از روش Swanepoel ثابت های نوری لایه های نانو بلوری اکسید روی از قبیل اندیس انکساری و ضریب جذب محاسبه شده و تاثیر فرایند گرمادهی بر روی ضرایب مذکور بررسی گشته است