اندازه گیری پارامترهایسیستم چند لایه با سطوح کروی با استفاده از تداخل سنجی با نور کوتاه همدوس
محل انتشار: کنفرانس فیزیک ایران 1386
سال انتشار: 1386
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,464
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
IPC86_125
تاریخ نمایه سازی: 20 دی 1385
چکیده مقاله:
در این مقاله بر اساس تداخل سنجی با نور کوتاه همدوس، روشی جهت اندازه گیری پارامترهای سیستم چند لایه با سطوح کروی ارائه میشوند . این پارامترها شامل شعاع انحنای سطوح، صخامت و ضریب شکست لایه ها هستند . در یک بازوی تداخل سنج مایکلسون با منبع نور کوتاه همدوس، باریکه کروی حاصل از یک عدسی محدب به نمونه تابیده میشود . با جابجا کردن نمونه نسبت به عدسی مکانی که باریکه بر هر سطح میتابد و بر میگردد اندازه گیری میشود . همزمان با جابجا کردن بازوی دیگر تداخل سنج مکانی که فریز تداخلی تشکیل میشود مشخص میگردد . بدینوسیله اختلاف راه نوری باریکه های انعکاسی پیرامحوری از سطوح اندازه گیری میشود . این اندازه گیری ها معادله های لازم را برای محاسبه پارامترهای هر لایه را ایجاد میکنند . آزمایش بر روی یک عدسی دوتائی صورت گرفته است . نتایح دقت نسبی %0,1 در محاسبه پارامترهای مذکور را، با توجه به امکانات موجود، نشان میدهد .
نویسندگان
احمد درودی
گروه فیزیک دانشگاه زنجان
محمدتقی توسلی
گروه فیزیک دانشگاه تهران
محسن دشتی
گروه فیزیک دانشگاه زنجان
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :