ناشر تخصصی کنفرانس های ایران

لطفا کمی صبر نمایید

Publisher of Iranian Journals and Conference Proceedings

Please waite ..
CIVILICAWe Respect the Science
ناشر تخصصی کنفرانسهای ایران
عنوان
مقاله

اندازه گیری پارامترهایسیستم چند لایه با سطوح کروی با استفاده از تداخل سنجی با نور کوتاه همدوس

تعداد صفحات: 4 | تعداد نمایش خلاصه: 1111 | نظرات: 0
سال انتشار: 1386
کد COI مقاله: IPC86_125
زبان مقاله: فارسی
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

راهنمای دانلود فایل کامل این مقاله

متن کامل این مقاله منتشر نشده و در پایگاه سیویلیکا موجود نمی باشد.

منبع مقالات سیویلیکا دبیرخانه کنفرانس ها و مجلات می باشد. برخی دبیرخانه ها اقدام به انتشار اصل مقاله نمی نمایند.به منظور تکمیل بانک مقالات موجود چکیده این مقالات در سایت درج می شوند ولی به دلیل عدم انتشار اصل مقاله امکان ارائه آن وجود ندارد.

خرید و دانلود فایل مقاله

متن کامل (فول تکست) این مقاله منتشر نشده و یا در سایت موجود نیست و امکان خرید آن فراهم نمی باشد.

مشخصات نویسندگان مقاله اندازه گیری پارامترهایسیستم چند لایه با سطوح کروی با استفاده از تداخل سنجی با نور کوتاه همدوس

احمد درودی - گروه فیزیک دانشگاه زنجان
محمدتقی توسلی - گروه فیزیک دانشگاه تهران
محسن دشتی - گروه فیزیک دانشگاه زنجان

چکیده مقاله:

در این مقاله بر اساس تداخل سنجی با نور کوتاه همدوس، روشی جهت اندازه گیری پارامترهای سیستم چند لایه با سطوح کروی ارائه میشوند . این پارامترها شامل شعاع انحنای سطوح، صخامت و ضریب شکست لایه ها هستند . در یک بازوی تداخل سنج مایکلسون با منبع نور کوتاه همدوس، باریکه کروی حاصل از یک عدسی محدب به نمونه تابیده میشود . با جابجا کردن نمونه نسبت به عدسی مکانی که باریکه بر هر سطح میتابد و بر میگردد اندازه گیری میشود . همزمان با جابجا کردن بازوی دیگر تداخل سنج مکانی که فریز تداخلی تشکیل میشود مشخص میگردد . بدینوسیله اختلاف راه نوری باریکه های انعکاسی پیرامحوری از سطوح اندازه گیری میشود . این اندازه گیری ها معادله های لازم را برای محاسبه پارامترهای هر لایه را ایجاد میکنند . آزمایش بر روی یک عدسی دوتائی صورت گرفته است . نتایح دقت نسبی %0,1 در محاسبه پارامترهای مذکور را، با توجه به امکانات موجود، نشان میدهد .

کد مقاله/لینک ثابت به این مقاله

برای لینک دهی به این مقاله می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت مقاله در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:

https://civilica.com/doc/22434/

نحوه استناد به مقاله:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
درودی، احمد و توسلی، محمدتقی و دشتی، محسن،1386،اندازه گیری پارامترهایسیستم چند لایه با سطوح کروی با استفاده از تداخل سنجی با نور کوتاه همدوس،کنفرانس فیزیک ایران 1386،یاسوج،،،https://civilica.com/doc/22434

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این مقاله اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (1386، درودی، احمد؛ محمدتقی توسلی و محسن دشتی)
برای بار دوم به بعد: (1386، درودی؛ توسلی و دشتی)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود ممقالهقاله لینک شده اند :

  • Fukano T., XYamaguchi I., simultaneous measurement of thicknesses and refractive ...
  • A.Darudi and M. Taghi Tavassoly, In terferometric Specification of Lens ...
  • Ahmad Darudi, S. Askari, M. Taghi Tavassoly, Lens parameters (thickness, ...
  • مدیریت اطلاعات پژوهشی

    صدور گواهی نمایه سازی | گزارش اشکال مقاله | من نویسنده این مقاله هستم

    اطلاعات استنادی این مقاله را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

    علم سنجی و رتبه بندی مقاله

    مشخصات مرکز تولید کننده این مقاله به صورت زیر است:
    نوع مرکز: دانشگاه دولتی
    تعداد مقالات: 7,863
    در بخش علم سنجی پایگاه سیویلیکا می توانید رتبه بندی علمی مراکز دانشگاهی و پژوهشی کشور را بر اساس آمار مقالات نمایه شده مشاهده نمایید.

    مقالات مرتبط جدید

    به اشتراک گذاری این صفحه

    اطلاعات بیشتر درباره COI

    COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

    کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.

    پشتیبانی