بررسی قابلیت های حافظه دسترسی تصادفی

پردازنده های مدرن که شامل حافظه ی نهان بزرگ است، نسبت به خطاهای گذرا آسیب پذیری بالایی دارند. این موضوع باعث شد تا از روش های کدگذاری برای محافظت دربرابر خطا استفاده شود. در این مقاله به بررسی روش هایی برای افزایش اطمینان پذیری حافظه ی نهان محافظت نشده در پردازنده ها ارائه شده است. همچنین به بررسی یکی از مهم ترین مشکلات حافظه های STT-RAM که امکان بروز خطا در این حافظه ها است پرداخته شده، که از عوامل اصلی رخداد خطا در این حافظه ها می توان به نوسانات فرایند ساخت، نوسانات دمایی و وابستگی رخداد خطا به توزیع داده ای اشاره کرد.

کلیدواژه ها:

حافظه نهان ، Stt-RAM ، حافظه دسترسی تصادفی ، توابع درهم ساز