ارزیابی تأثیر ضخامت پوشش های سرامیکیSiO2 به روش Sol – Gelبر روی خواص اپتیکی

سال انتشار: 1383
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,792

فایل این مقاله در 8 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

CIMS08_026

تاریخ نمایه سازی: 21 آذر 1385

چکیده مقاله:

لایه های سرامیکی تهیه شده از طریق فرایند سل - ژل کاربردهای فراوانی در زمینه نور و اپتیک دارند . ویژگی های ابعادی و مورفولوژیکی پوشش همچون ضخامت، زبری سطح، تخلخل، دانه بندی و غیره به میزان زیـادی بـر روی خواص نوری جسم مؤثر و تعیین کننده است . در این پژوهش تـأ ثیر ضـخامت لایـه هـای سـرامیکی SiO2 بـر روی خواص اپتیکی جسم مورد ارزیابی قرار گرفته است . برای این منظور تعدادی نمونه شیشه ای به عنوان زیر لایه تهیه گردیده و پس از آماده سازی، عملیات لایه نشانی به روش غوطه وری سل - ژل بر روی آن ها انجام شده اسـت . بـه منظور دستیابی به لایه هایی با ضخامت های مختلف، پس از تهیه محلول Sol سیلیسی، نمونـه هـا بـ ه وسـیلۀ مکـانیزم مربوطه در فواصل زمانی مختلف در محلول غوطه ور و سپس با ملایمت بیرون کشیده شدند . پـس از آن عملیـات 620 بـه مـدت 4 سـاعت تحـت عملیـات پخـت و oC خشک کـردن انجـام گردیـده و سـپس نمونـه هـا در دمـای متراکم سازی قرار گرفتند . رفتار اپتیکی نمونه ها به کمک اسپکتروسکوپی UV/ VIS تحت ارزیابی قـرار گرفتـه و طیف های عبور در ناحیه طول موج های نور مرئی از روی آن ها تهیه و با یکدیگر مقایسه شـده انـد . نتـایج ارزیـابی نشان می دهد با کاهش ضخام ت لایه های درصد عبور نور از لایـه هـا افـزایش و لایـه هـای نـازک سـرامیکی SiO2 با رفتار اپتیکی مطلوب قابل تهیه است .

کلیدواژه ها:

نویسندگان

رضا مظفری نیا

استادیار دانشکده مهندسی مواد، دانشگاه صنعتی مالک اشتر

علی قاسمی

مربی دانشکده مهندسی مواد، دانشگاه صنعتی مالک اشتر

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • رضا مظفری‌نیا، فخرالدین اشرفی‌زاده، محمدعلی گلعذار، " ارزیابی فرایند نوین ...
  • H. Schroder, phys. Thin Films, 1969, 5, 87. ...
  • K. Bange, in *Key Engineering Material?, 1998, Vol. 150, 21 ...
  • H.A. Macleod, R. R. Shnnon and J.C. Wyent, Applied Optics ...
  • H. K. Pulker, ،، Coating on Glass? _ 1984, Elsevier, ...
  • R. Mozaffarinia, F. Ashrafizadeh, M.Golozar, ،، SiO, / SiO>- ZnO ...
  • نمایش کامل مراجع