یک سیاست جایگزینی بهبودیافته جهت پیشگیری از ناپایداری های بایاس-دما در حافظه نهان ناشی از پروتکل های هماهنگی

سال انتشار: 1402
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: فارسی
مشاهده: 46

فایل این مقاله در 16 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

JR_JSCIT-12-4_005

تاریخ نمایه سازی: 25 مهر 1403

چکیده مقاله:

در این طرح، ساختاری بهبود یافته برای سیاست جایگزینی در حافظه نهان به منظور پیشگیری از وقوع آسیب پذیری های سالمندی ناشی از پروتکل های هماهنگی ارائه شده است. روش پیشنهادی بر اساس خروجی های یک مطالعه جامع بر روی دلایل وقوع کاهش حاشیه نویز ایستا سلول های حافظه ایستا با دسترسی تصادفی ارائه شده است. مطالعه جامع مذکور نشان می دهد که توزیع نامتوازن بلوک های داده با حالات هماهنگی متفاوت در بین خطوط حافظه نهان به عنوان یکی از دلایل وقوع کاهش حاشیه نویز در سلول های حافظه نهان به حساب می آید. بر اساس یافته ها، یک سیاست جایگزینی بهبود یافته برای حافظه نهان به منظور ایجاد توازن در توزیع بلوک های داده از نوع تمیز و کثیف بین خطوط مختلف حافظه ارائه شده است. در این راستا، سیاست جایگزینی شبه اخیرا کمتر استفاده شده بازطراحی شده است، به نحوی که در زمان خروج بلوک های داده، حالت هماهنگی بلوک ها و نوع بروز عدم برخورد ناشی از تناقض آدرس نیز لحاظ گردد. نتایج روش پیشنهادی نشان دهنده بهبودی حدود ۱۰ و ۱۱ درصدی میزان تنزل در روند کاهشی حاشیه نویز ایستا در زمان ذخیره سازی و در زمان خواندن در سلول های حافظه نهان می باشد. روش پیشنهادی منجر به سربار ناچیز مساحت و انرژی به همراه کمتر از یک درصد کاهش در نرخ برخورد حافظه نهان می گردد.

کلیدواژه ها:

نهان ، ناپایداری بایاس-دما ، حاشیه نویز ایستا ، خطاهای سخت ، سیاست جایگزینی حافظه نهان ، پروتکل هماهنگی حافظه نهان

نویسندگان

محمد مقصودلو

گروه مهندسی کامپیوتر، دانشکده فنی و مهندسی گرگان، دانشگاه گلستان.

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • A. Agarwal, B. C. Paul, H. Mahmoodi, A. Datta and ...
  • T. Grasser, “Bias Temperature Instability for Devices and Circuits,” Springer ...
  • E. Mintarno, V. Chandra, D. Pietromonaco, R. Aitken and R. ...
  • F. Crupi, C. Pace, G. Cocorullo, G. Groeseneken, M. Aoulaiche, ...
  • J. Keane, X. Wang, D. Persaud and C. H. Kim, ...
  • A. T. Krishnan, V. Reddy, S. Chakravarthi, J. Rodriguez, S. ...
  • A. Bansal, R. Rao, J. Kim, S. Zafar, J. H. ...
  • M. Bagatin, S. Gerardin, A. Paccagnella and F. Faccio, “Impact ...
  • A. T. Krishnan, V. Reddy, D. Aldrich, J. Raval, K. ...
  • Y. Kunitake, T. Sato and H. Yasuura, "A case study ...
  • A. Jafari, M. Raji and B. Ghavami, "BTI-Aware Timing Reliability ...
  • S. Mukhopadhyay, H. Mahmoodi and K. Roy, "Modeling of failure ...
  • Q. Chen, H. Mahmoodi, S. Bhunia and K. Roy, "Modeling ...
  • F. Firouzi, S. Kiamehr and M. B. Tahoori, "Statistical analysis ...
  • M. Maghsoudloo and H. R. Zarandi, "Design space exploration of ...
  • J. Franco, B. Kaczer and G. Groeseneken, “Reliability of High ...
  • H. Amrouch, T. Ebi and J. Henkel, "Stress balancing to ...
  • Y. Kunitake, T. Sato and H. Yasuura, "Signal probability control ...
  • A. Gebregiorgis, M. Ebrahimi, S. Kiamehr, F. Oboril, S. Hamdioui ...
  • M. Karimi, N. Rohbani and S. Miremadi, "A Low Area ...
  • B. Liu and C. -H. Chen, "Testing, diagnosis and repair ...
  • M. Agarwal, V. Balakrishnan, A. Bhuyan, K. Kim, B. C. ...
  • K. Kang, M. A. Alam and K. Roy, "Characterization of ...
  • N. Rohbani, H. Gau, S. Mohammadinejad, T. Kumar Maiti, D. ...
  • Takatsuka, "Power Reduction and BTI Mitigation of Data-Cache Memory Based ...
  • J. Hu, S. Wang and S. G. Ziavras, "In-Register Duplication: ...
  • M. Imani, S. Patil and T. Rosing, "DCC: Double capacity ...
  • K. Flautner, Nam Sung Kim, S. Martin, D. Blaauw and ...
  • S. Kiamehr, F. Firouzi, M. Ebrahimi and M. B. Tahoori, ...
  • N. Rohbani, M. Ebrahimi, S. Miremadi and M. B. Tahoori, ...
  • P. S. Magnusson, M. Christensson, J. Eskilson, D. Forsgren, G. ...
  • N. Binkert, B. Beckmann, G. Black, S. K. Reinhardt, A. ...
  • C. Sakalis, C. Leonardsson, S. Kaxiras and A. Ros, "Splash-۳: ...
  • B. Tudor, J. Wang, C. Sun, Z. Chen, Z. Liao, ...
  • CACTI: An integrated cache and memory access time, cycle time, ...
  • SYNOPSYS Design Compiler, https://www.synopsys.com ...
  • نمایش کامل مراجع