Modeling of Drain Current in Double-Gate Heterojunction Tunneling FETs: a Physical-Analytical Approach

سال انتشار: 1400
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: انگلیسی
مشاهده: 11

فایل این مقاله در 7 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

JR_MSEEE-1-3_001

تاریخ نمایه سازی: 2 مهر 1403

چکیده مقاله:

In this paper, we develop an analytical potential model for the double-gate Heterostructure Tunneling Field-Effect Transistors (H-TFETs) to accurately predict the electrostatic potential profile of the device in all regions of operation. Using the potential model, we present appropriate relations for the tunneling distance at a specified energy level in the bandgap of the tunneling junction. Finally, based on the highest tunneling rate formalism, the minimum tunneling distance is employed to calculate the tunneling current, which is the dominant on-state current flow mechanism in the H-TFETs. We show that our models closely match the results obtained by numerical simulations, for various heterostructure devices with different material systems in a wide range of operation, from subthreshold to super threshold.

کلیدواژه ها:

Analytical modeling ، band-to-band tunneling ، double-gate heterostructure tunnel field-effect transistor (H-TFET) ، Drain Current

نویسندگان

Danial Keighobadi

Department of Electrical Engineering, Semnan University, Semnan, Iran

Saeed Mohammadi

Department of Electrical Engineering, Semnan University, Semnan, Iran

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • Sant, S., Schenk, A.: Methods to Enhance the Performance of ...
  • Zhou, G., Lu, Y., Li, R., Zhang, Q., Liu, Q., ...
  • Moselund, K.E., Cutaia, D., Schmid, H., Borg, M., Sant, S., ...
  • Ahish, S., Sharma, D., Kumar, Y.B.N., Vasantha, M.H.: Performance enhancement ...
  • Strangio, S., Palestri, P., Lanuzza, M., Crupi, F., Esseni, D., ...
  • Shih, C.H., Chien, N.D.: Sub-۱۰-nm tunnel field-effect transistor with graded ...
  • Dong, Y., Lining, Z., Li, X., Lin, X., Chan, M.: ...
  • Guan, Y., Li, Z., Zhang, W., Zhang, Y.: An Accurate ...
  • Kumar, S., Goel, E., Singh, K., Singh, B., Singh, P.K., ...
  • Chander, S., Baishya, S.: A Two-Dimensional Gate Threshold Voltage Model ...
  • Mehta, J.U., Borders, W.A., Liu, H., Pandey, R., Datta, S., ...
  • ]۱۲] Taur, Y., Wu, J., Min, J.: An analytic model ...
  • Kim, S., Choi, W.Y.: Improved compact model for double-gate tunnel ...
  • Keighobadi, D, Mohammadi, S.. Physical and analytical modeling of drain ...
  • Mohammadi, S., Keighobadi, D. A Universal Analytical Potential Model for ...
  • Mitra, S.K., Goswami, R., Bhowmick, B.: A hetero-dielectric stack gate ...
  • Taur, Y., Liang, X., Wang, W., Lu, H.: A Continuous, ...
  • Kuo, S.C.L. and J.B.: Modeling the Fringing Electric Field Effect ...
  • Chen, Q., Harrell, E.M., Meindl, J.D.: A physical short-channel threshold ...
  • Boucart, K.: Simulation of Double-Gate Silicon Tunnel FETs with a ...
  • Zhang, L., He, J., Chan, M.: A compact model for ...
  • Kane, E.O.: Theory of tunneling. J. Appl. Phys. ۳۲, ۸۳–۹۱ ...
  • Bart V Van Zeghbroeck: Principles of Semiconductor Devices and Heterojunctions. ...
  • Werness, S.A., Anderson, D.J.: User manual for IDENT, a parametric ...
  • نمایش کامل مراجع