بررسی تاثیر ریز دانه ها بر استقامت عایقی مقره ها در شبکه های ۲۰ کیلوولت توزیع و بالاتر

توزیع میدان روی سطح مقره غیر یکنواخت بوده و ماکزیمممیدان الکتریکی در اطراف دو الکترود مقره مشاهده می.شود چنانچه میدانالکتریکی روی سطح مقره از استقامت الکتریکی هوا بیشتر شود ممکن است منجر به تخلیه های جزئی و شکست کامل مفره شود استفاده از ریزدانه ها از جمله روش های کنترل میدان روی سطح مقره است که می تواندتنش های میدان را کاهش دهد. در این مقاله تاثیر حضور ریزدانه های اکسیدروی بر کاهش حداکثر میدان الکتریکی سطح مقره پلیمری و تاثیر آن بر ولتاژ بحرانی شکست مقره و ریسک عایقی آن مورد بررسی قرار گرفته است. میکرووریستور که دارای یک مشخصه غیر خطی است در فضایبین هسته و پوشش سیلیکونی خارجی مقره به کار رفته است شبیه سازی هابا استفاده از روش اجزاء محدود بر روی یک مقره ۴۰۰ کیلوولتی انجام شده و ابعاد مناسب لایه ی میکرووریستور نیز با استفاده از الگوریتم اجتماع ذرات تسریع یافته بدست آمده است در ادامه مدل بهینه شده با استفاده از تکنیک های مدل سازی اجزای یک شبکه ی انتقال مطابق مدل های معتبر در نرم افزار EMTP شبیه سازی شده است. سپس با تعریف مقادیر مختلف ولتاژ بحرانی ، نرخ قطعی ناشی از برخورد صاعقه و ریسک عایقی مدل هایمختلف مقره محاسبه می شود. مقایسه نتایج شبیه سازی ها نشان می دهد که میکرووریستور استفاده شده اثر مثبتی بر کاهش گرادیان ولتاژ سطح مقره، کاهش ریسک عایقی مقره و افزایش ولتاژ بحرانی شکست مقره داشته است

کلیدواژه ها:

محدود بهینه سازی ، APSO ریزدانه اکسید روی ، مقره پلیمری ، مونت کارلو ، ولتاژبحرانی شکست