شاخص های مالم کوئیست هزینه در حضور داده های منفی

سال انتشار: 1391
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 874

متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

DEA04_147

تاریخ نمایه سازی: 10 اردیبهشت 1392

چکیده مقاله:

در این مقاله یک نوع شاخص برای تغییر بهره وری که می تواند برای داده های منفی به کار رود، توسعه داده شده است. برای نیل به این هدف، مدل جهت دار تغییرات (RDM) که حالت خاصی از تابع فاصله جهت دار است برای محاسبه کارایی در حضور داده های منفی به کار گرفته می شود. از مقادیر کارایی RDM برای رسیدن به شاخص نوع مالم کوئیست هزینه استفاده می کنیم که تغییر بهر وری را منعکس می کند. شاخص بهره وری نسبت به یک متا تکنولوژی ثابت توسعه داده می شود و بنابراین به آن شاخص متا مالم کوئیست هزینه می گویند. همچنین شرح می دهیم که چطور شاخص متا مالم کوئیست هزینه می تواند نه تنها برای مقایسه عملکرد یک واحد در دو دوره ی زمانی بلکه برای مقایسه عملکرد دو واحد متفاوت در دوره ی زمانی متفاوت و یکسان استفاده شود.

کلیدواژه ها:

توابع فاصله جهت دار ، داده های منفی در DEA ، شاخص های مالم کوئیست هزینه ، متا مرز

نویسندگان

محسن رستمی مال خلیفه

دانشکده علوم پایه،دانشگاه آزاد اسلامی واحد علوم و تحقیقات تهران، ته

رضا شاهوردی

دانشکده علوم پایه،دانشگاه آزاد اسلامی واحد قائمشهر، مازندران، ایر

سیده انسیه نصیری دون

دانشکده علوم پایه،دانشگاه آزاد اسلامی واحد علوم و تحقیقات تهران، ته

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • Asmild, M. Tam, F., 2007. Estimating global frontier shifs and ...
  • Ray, S.C., Desli, E., 1997. Productivity growth, technical progress and ...
  • نمایش کامل مراجع