ساخت نانو سیم های CoZn انباشت شده در آلومینای نانومتخلخل و مشخصه یابی آن با استفاده از روش پس پراکندگی رادرفورد

سال انتشار: 1401
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: فارسی
مشاهده: 279

فایل این مقاله در 9 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

JR_PSI-22-1_011

تاریخ نمایه سازی: 17 دی 1401

چکیده مقاله:

در این تحقیق نانوسیم های آلیاژ CoZn در قالب اکسید آلومینیوم متخلخل توسط تپ جریان متناوب (ac) انباشت شدند. قالب اکسید آلومینیوم از طریق آنودایز نرم دو مرحله ای ورقه آلومینیوم خالص ساخته شد و ریخت شناسی آن با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی مشخص شد. به منظور مطالعه سیستماتیک نمونه ساخته شده، از روش های غیرمخرب تحلیل با باریکه یونی استفاده شد. از بین این روش ها تحلیل طیف پس پراکندگی رادرفود با برخورد یون های پروتون با انرژی keV ۲۰۰۰ و keV ۲۵۰۰ و یون های هلیوم با انرژی keV ۲۵۰۰ با ماده انجام شد. تحلیل و بررسی طیف RBS نمونه به همراه شبیه سازی های انجام شده با کد SIMNRA، امکان تعیین غلظت، نمایه عمقی عناصر موجود در نمونه و تعیین استوکیومتری قالب آلومینا در عمق های متفاوت را فراهم کرد. بهترین نتایج به دست آمده مربوط به تحلیل با پروتون keV ۲۵۰۰ است که عمق نانوسیم های آلیاژ CoZn را برابر ۱۰ الی ۱۴ میکرومتر به دست آورد. همچنین برای صحت سنجی نتایج، از نمونه تصاویر FE-SEM تهیه شد که موید همخوانی با نتایج به دست آمده از روش RBS است.

کلیدواژه ها:

تحلیل با باریکه یونی ، طیف سنجی پس پراکندگی رادرفورد ، اکسید آلومینیوم آندی ، نمایه عمقی عناصر ، نانو سیم CoZn

نویسندگان

محمد ترکیهای اصفهانی

دانشکده فیزیک، دانشگاه کاشان، کاشان

زینب سادات ایمانی

دانشکده فیزیک، دانشگاه کاشان، کاشان

امیدرضا کاکویی

پژوهشکده فیزیک و شتابگرها، پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای، سازمان انرژی اتمی ایران، تهران

مهسا معظمی قمصری

دانشکده فیزیک، دانشگاه کاشان، کاشان

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • K Ishizaki, S Komarneni, and M. Nanko, “Porous Materials: Process ...
  • R M Metzger, et al., IEEE Transactions on Magnetics ۳۶, ...
  • M Méndez, et al., Crystals ۷, ۳ (۲۰۱۷) ۶۶. ...
  • M A Kashi, A Ramazani, and Z Fallah., Journal of ...
  • Z Wu, C Richter, and L Menom., Journal of the ...
  • S Pal, et al., Solid state communications ۱۵۱, ۲۴ (۲۰۱۱) ...
  • A Esmaeili, et al., Journal of Magnetism and Magnetic Materials ...
  • D Crous, et al., Applied Physics Letters ۱ (۲۰۰۰) ۴۹. ...
  • J M Baik, M Schierhorm, and M Mosokovits., The Journal ...
  • M A Kashi, et al., Applied surface science ۲۵۷, ۲۲ ...
  • H Pan, et al., The Journal of Physical Chemistry B ...
  • R C Bird, and J S Williams., “Ion beams for ...
  • F Pászti, and E Szilágyi., Vacuum ۵۰, ۳ (۱۹۹۸) ۴۵۱. ...
  • B Bhushan., “Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology”., Vol. ...
  • J Möllmer, et al., Microporous and Mesoporous Materials, ۱۲۹, ۳ ...
  • M Torkiha, et al., Nuclear Instruments and Methods in Physics ...
  • P Prieto, et al., Surface and interface analysis ۴۳, ۱۱ ...
  • M Hernández-Vélez, et al., Applied Physics A ۸۰, ۸ (۲۰۰۵) ...
  • H R Verma., “Atomic and nuclear analytical methods”., Springer (۲۰۰۷). ...
  • Z Zheng, et al., Nuclear Instruments and Methods in Physics ...
  • F M Gerami, O Kakuee, and S Mohammadi., Nuclear Instruments ...
  • H Masuda, and K Fukuda., science ۲۶۸, ۵۲۱۶ (۱۹۹۵) ۱۴۶۶. ...
  • Z Rafati., “The effect of pore diameter and depth on ...
  • K Nielsch, et al., Nano letters ۲, ۷ (۲۰۰۲) ۶۷۷. ...
  • G Meng, et al., Proc Natl Acad Sci U S ...
  • M Mayer., “SIMNRA User’s Guide”., Max-Planck-Institut für Plasmaphysik (۲۰۱۷). ...
  • نمایش کامل مراجع