مروری بر طیف سنجی فوتوالکترون پرتو XPS) X )وکاربردهای آن
سال انتشار: 1401
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,105
فایل این مقاله در 11 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
IMTC03_097
تاریخ نمایه سازی: 17 آبان 1401
چکیده مقاله:
طیف سنجی فوتوالکترون پرتو (XPS) X به یکی از پرکاربردترین تکنیکهای آنالیز سطح تبدیل شده است. XPS یا طیف سنجی الکترونی برای تجزیه و تحلیل شیمیایی با قابلیت به دست آوردن ترکیب عنصری کمی، حالت شیمیایی و اطلاعات ضخامت لایه پوششی از بالای ۱۰ نانومتر از سطح نمونه، یک روش همهکاره و گسترده است. در این مقاله مروری، اصول اولیه این تکنیک از جمله اثر فوتوالکتریک، چگونگی برهمکنش الکترونها با ماده، عوامل موثر در این تکنیک مانند آلودگی سطحی، و اثر محیط شیمیایی اطراف یک عنصر بر انرژی اتصال الکترونهای خود ارائه شده است. همچنین کاردبردها و روشکار این تکنیک مورد بحث قرار گرفته است.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
فرخ فر ولیزاده هرزند
دانشگاه محقق اردبیلی
علی نعمت اله زاده
دانشگاه محقق اردبیلی