An overview of scanning near-field optical microscopy in characterization of nano-materials
محل انتشار: مجله بین المللی ابعاد نانو، دوره: 5، شماره: 3
سال انتشار: 1393
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: انگلیسی
مشاهده: 246
فایل این مقاله در 10 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
JR_IJND-5-3_001
تاریخ نمایه سازی: 24 تیر 1401
چکیده مقاله:
Scanning Near-Field Optical Microscopy (SNOM) is a member of scanning probe microscopes (SPMs) family which enables nanostructure investigation of the surfaces on a wide range of materials. In fact, SNOM combines the SPM technology to the optical microscopy and in this way provide a powerful tool to study nano-structures with very high spatial resolution. In this paper, a qualified overview of diverse SNOM methods mostly based on aperture and aperture-less is presented.
کلیدواژه ها:
Scanning Near-Field Optical Microscopy ، Scanning probe microscope ، Nano structures ، Optical microscopy ، Aperture less SNOM ، Photon scanning tunneling microscopy ، Optical fiber
نویسندگان
Z. Sobat
Catalysis and Nanotechnology Research Division, Research Institute of Petroleum Industry, P. O. Box: ۱۴۸۵۷۳۳۱۱۱, Tehran, Iran.
S. Sadegh Hassani
Catalysis and nanotechnology research division, research institute of petroleum industry, P. O. Box: ۱۴۸۵۷۳۳۱۱۱, Tehran, Iran.