تاثیر زمان انباشت برخواص ساختاری لایه های نازک مس تهیه شده به روش کندوپاش مغناطیسی DC

سال انتشار: 1390
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,117

فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

NCNN01_013

تاریخ نمایه سازی: 17 اردیبهشت 1391

چکیده مقاله:

امروزه کاربردهای متنوع عملی و صنعتی لایه های نازک اهمیت توسعه فناوری لایه های نازک را مورد توجه قرارداده است دراین تحقیق ما لایه های نازک مس را برروی زیرلایه ای از شیشه در 3 زمان 4، 8و12 دقیقه با توان 30w درمحیط گاز آرگون به روش کندوپاش مغناطیسی DC دردمای اتاق انباشت نمودیم مشخصه یابی لایه های تهیه شده با کمک پراش اشعه (XRD) X و میکروسکوپ نیروی اتمی AFM که به ترتیب برای توصیف خواص ساختاری و مورفولوژی سطح لایه ها به کار می روند صورت پذیرفت نتایج این تحقیق نشان داد که زمان لایه نشانی نقش مهمی برضخامت و میانگین اندازه بلورکهای لایه های مس دارد و با افزایش زمان میانگین اندازه بلورکها افزایش می یابد و مورفولوژی سطح نیز کاملا تغییر می کند.

نویسندگان

محمدعلی مقری موذن

دانشگاه آزاد اسلامی واحد کرج باشگاه پژوهشگران جوان گروه فیزیک

علیرضا هژبری

دانشگاه آزاد اسلامی واحد کرج

سوده کدخدایی

دانشگاه آزاد اسلامی واحد کرج

فاطمه حاج اکبری

دانشگاه آزاد اسلامی واحد کرج

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • L. Eckertova, "Physics of Thin Films", Plenum Press, Prague, 1986. ...
  • J. Yang, Y. Huang, K. Xu, "Effect of substrate _ ...
  • P. Mohan Babu, G. Venkata Rao, S. Uthanna, "Transparent conductive ...
  • H. Ruoyu, P. Tingting, "Synthesis and surface modification of the ...
  • نمایش کامل مراجع