شبیه سازی اثرات تابشهای پروتون و الکترون بروی لایه های محافظ در سلول منطقی دیجیتالی درون تراشه FPGA با استفاده از کد FLUKA
محل انتشار: فصلنامه سنجش و ایمنی پرتو، دوره: 8، شماره: 4
سال انتشار: 1399
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: فارسی
مشاهده: 274
فایل این مقاله در 8 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
JR_RSM-8-4_031
تاریخ نمایه سازی: 15 فروردین 1401
چکیده مقاله:
در این مقاله اثرات تابشهای پروتون و الکترون بروی لایه های محافظ در سلول منطقی دیجیتالی درون تراشه FPGA با استفاده از کد FLUKA شبیه سازی شده است. با استفاده از کد مونت کارلوی، ترابرد الکترونها و پروتونها در یک سلول منطقی مربوط به دروازه ی دیجیتالی درون تراشه FPGA مورد بررسی قرار گرفته شده است. در این شبیه سازی، حداکثر انرژی الکترونهای و پروتونهای وارد شده به سلول منطقی تراشه بین ۳۰ تا ۵۰ مگاالکترون ولت بوده و آثار اختلالات ناشی از تابش بر مواد نیمههادی و همچنین برخی از اثرات مخرب تابش پرتوهای الکترون و پروتون در پنج ساختار متفاوت با بکار بردن لایه های آلومینیوم، سیلیکون، دی اکسید سیلیکون، بورن و اکسید بورن مورد بررسی قرار گرفته شده است. نتایج شبیه سازیها نشان میدهد، بکار بردن لایهی ضخیم دی اکسید سیلیکون در چند لایه ی متفاوت موجب کاهش آثار ناشی از اختلال ها نسبت به سایر ساختارها خواهد شد.
کلیدواژه ها:
logical cell ، proton ، radiation effects ، SEU ، FLUKA code ، سلول منطقی ، پروتون ، اثرات تابش ، کد فلوکا ، SEU
نویسندگان
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :