تأثیر ضخامت لایه و ساختار متالورژیکی بر جاذب امواج الکترو مغناطیسی فریت باریم آلائیده شده در فرکانس های مایکروویو

سال انتشار: 1386
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,028

فایل این مقاله در 10 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

IMES01_343

تاریخ نمایه سازی: 29 اسفند 1390

چکیده مقاله:

در این تحقیق به بررسی خواص پودرهای هگزاگونال فریت باریمBaFe9 Mn1/5 Ti1/5 O19 وBa Fe9 Ti1/5 Co1/5 O و 19 BaFe9 Mn1/5 Co1/5 O19 به عنوان جاذب امواج مایکروویو پرداخت شده است ابتدا پودر فریت های مورد نظر به وسیله روش حالت جامد تولید شده اند . سپس 80 % وزنی پودر فریت تولید شده با پلی وینیل کلرید مخلوط و حرارت داده شد تا ماده مرکب رزین - فریت با ضخامت های 2/5 mm 2 و mm 1/5 و mm از XRD به منظور شناسایی ساختار نمونه ها استفاده شد . با کمک میکروسکوپ الکترونی، اندازه و مورفولوژی دانه های فریت Ba Fe9 Mn1/5 Ti1/5 O19 موردارزیابی قرار گرفت . دستگاه vibration sample magnetometer به منظور ترسیم حلق ه های پسماند در دمای اتاق به کار گرفته شد . با دستگاه آ نالیزگر بر داری در بازه فرکانسGHz 20-12 تلفات انعکاس رزین- فریت اندازه گیری شد . مشخص شد کهBa Fe9 Mn1/5 Ti1/5 O19 با ضخامت 2mmرا م یتوان به عنوان جاذب پهن باند امواج مایکروویواستفاده کرد

نویسندگان

محمدصادق رشیدی

دانشجوی کارشناسی – دانشکده مهندسی مواد ، دانشگاه صنعتی مالک اشتر

عباس ترشیزی

دانشجوی کارشناسی – دانشکده مهندسی مواد ، دانشگاه صنعتی مالک اشتر

علی قاسمی

استاد یاردانشکده مهندسی مواد ، دانشگاه صنعتی مالک اشتر

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • H.S.Cho and S.S kim, IEEE 35, 3 151(1999). ...
  • M.Matsumoto and Y.Miyata, J .Appl.Phys .79, 5488 (1996). ...
  • H _ Zhang , L.Zhichao, and Y.Xi, Mater. S ci.Eng.B ...
  • S _ S ugimoto , K.Okayama. S .Kondo , H.Kimura, ...
  • H .Nakamura, D .B ook.T. Kagotani, and M _ Homma, ...
  • F _ Zekun, H.Aiping, _ E.Huahui, IEEE35, 420 (2002). ...
  • I.Nedkov and A. Petkov, IEEE26, 1483 (1990). ...
  • M _ _ _ Me shram , N, K.Agrawl, B ...
  • H. Takayashi, Mater. Trans. JIM 41, 1184 (2000). ...
  • Z.Haijun. Y.Zhang, and Z. Liangying, Mater. Sci. Eng. B84, 252 ...
  • H. Zhang, L. Zhichao, and Y. Xi, Marter. Sci. Eng. ...
  • N. Dishovske, A. Petkov, and I. Nedkov, IEEE Transe.Magn. 30, ...
  • S. Ruan, B. Xu, H. Suo, F. Wu, S. Xiang, ...
  • P. Singh, V. K. Babbar, A. Razdan, S.L. Srivastava, and ...
  • S. Sugimoto, S. Kondo, and K.Okayama, IEEE Trans. Magn. 35, ...
  • S. P. Ruan, B. K. Xu, and H. Suo, J, ...
  • F. Zekun, H. Aiping, and E. Huahui, IEEE 35, 420 ...
  • Y. Y. Kim, S. Yu, S. G. Min, and J. ...
  • J. Qiu, H. Shen, and M. Gu, Powder Technol. 154, ...
  • T. Nakamura. T. Miyamoto, and Y. Yamada. J. Magn. Magn. ...
  • P. Singh, J. Appl. Phys. 87, 4362 (2001). ...
  • نمایش کامل مراجع