تخمین عیب در سیستم های منفرد دوخطی
سال انتشار: 1390
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: فارسی
مشاهده: 219
فایل این مقاله در 7 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
JR_JIPET-2-7_005
تاریخ نمایه سازی: 19 دی 1400
چکیده مقاله:
سیستم های منفرد به طور طبیعی در بسیاری از سیستم های فیزیکی و عملی در مسائل کنترل وجود دارند. همچنین، دسته بزرگی از سیستم های غیرخطی را که نمی توان با سیستم های خطی تقریب زد، توسط سیستم های دوخطی با دقت بیشتری تقریب زده می شوند. از طرف دیگر، عدم تشخیص به موقع عیب به وسیله کاربر در سیستم های حساس، منجر به صدمه دیدن و از بین رفتن مقادیر قابل توجهی از امکانات و اطلاعات خواهد شد. لذا، به دلیل اهمیت سیستم های منفرد دوخطی در مدل کردن سیستم های فیزیکی و تاثیر نامطلوب عیب بر روی عملکرد سیستم ها، در این مقاله به تشخیص و آشکارسازی عیب در سیستم های منفرد دوخطی با ورودی اختلال و عیب نامعین با استفاده از مشاهده گر دوخطی مدلغزشی پرداخته شده است. برای این منظور، ابتدا سیستم منفرد دوخطی تجزیه شده و سپس یک مشاهده گر مدلغزشی برای آن در نظر گرفته شده است. به علاوه، روشی برای آشکارسازی و جداسازی عیب بر پایه مشاهده گر فوق ارائه شده است. در انتها، نتایج شبیه سازی برای یک مثال عددی آورده شده است.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
سارا منصوری نسب
کارشناسی ارشد /دانشگاه آزاد اسلامی واحد نجف آباد
جواد عسکری
استادیار /دانشگاه صنعتی اصفهان
سعید حسین نیا
استادیار /دانشگاه آزاد اسلامی واحد نجف آباد