ارزیابی کارایی تست ضدتصادفی در تشخیص اشکالات سیستمهای خود آزمایش داخلی
محل انتشار: دهمین کنفرانس سالانه انجمن کامپیوتر ایران
سال انتشار: 1383
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 906
فایل این مقاله در 8 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ACCSI10_056
تاریخ نمایه سازی: 25 آذر 1390
چکیده مقاله:
مساله تست مدارهای دیجیتال و آزمایش صحت کارکرد آنها خصوصا درمدارهای مجتمع با اندازه بسیار وسیع VLSI از اهمیت بسیاری برخوردار است دراین مقاله طول تستمربوطه به نمونه های ضدتصادفی برای N بار تشخیص اشکالات موجود در مدارهای VLSI تحلیل گردیده و با کمک تکنولوژی خودآزمایش داخلی BIST مورد ارزیابی و اندازه گیری قرارگرفته است سپس این شیوه تست روی مدار سنجش ISCAS85C432 شبیه سازی شده و نتایج ان با محاسبات انجام گرفته مقایسه شده است.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :