نگاهی به مبانی پراش اشعه ایکس (مقدمه ای کوتاه به XRD و XRF)

؛XRD یا همان پراش اشعه ایکس (X-Ray Diffraction) تکنیکی قدیمی و پرکابرد در بررسیخصوصیات کریستال ها می باشد. در این روش از پراش اشعه ایکس توسط نمونه جهت بررسیویژگی های نمونه استفاده می شود.تکنیک XRD برای تعیین عموم کمیات ساختار کریستالی از قبیل ثابت شبکه، هندسه شبکه،تعیین کیفی مواد ناشناس، تعیین فاز کریستال ها، تعیین اندازه کریستال ها، جهت گیریتک کریستال، استرس، تنش، عیوب شبکه و غیره، قابل استفاده می باشد. در این مقاله ابتدا بااساس کار XRD و سپس با اجزا XRD و همچنین XRF آشنا خواهیم شد.

کلیدواژه ها:

بلورشناسی ، کریستالوگرافی ، طیف سنجی فلورسانس ، پرتو ایکس ، XRD ، بلورنگاری پرتو ایکس ، XRF ، بلور ، کریستال ، رشد بلور