Nanowires fine tunable fabrication by varying the concentration ratios, the etchant and the plating spices in metal-assisted chemical etching of silicon wafer.
محل انتشار: مجله سرامیک های پیشرفته، دوره: 3، شماره: 2
سال انتشار: 1396
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: انگلیسی
مشاهده: 370
فایل این مقاله در 7 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
JR_ACERPT-3-2_006
تاریخ نمایه سازی: 11 اردیبهشت 1400
چکیده مقاله:
The metal-assisted chemical etching (MACE) was used to synthesis silicon nanowires. The effect of etchant concentration, etching and chemical plating time and doping density on silicon nanowires length were investigated. It is held that the increasing of HF and H۲O۲ concentrations lead to etching rate increment and formation of wire-like structure. The results show that, the appropriate ratio of concentration to form the silicon nanowires obeyed the [HF]/[H۲O۲] = R equation when R= ۲.۵, ۳ and ۳.۵ and any deviation of these ratio, cause to destruction of wire-like structure. Moreover, the critical etching rates to form the SiNWs are in the range of ۴nm/s to ۵nm/ s.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
Mojhgan Shavandi
Semiconductors, Materials and Energy Research Center (MERC)
Abozar Massoudi
Semiconductors , Materials and Energy Research Center (MERC)
Ali Khanlarkhani
Nano-Technology and Advanced Materials, Materials and Energy Research Center
Morteza Moradi
Semiconductors, Materials and Energy Research Center (MERC)
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :