استفاده از سنسور القایی آنالوگ برای تست جریان گردابی لایه آلومینیوم لوله پنج لایه PEX-AL-PEXدر حین تولید

سال انتشار: 1389
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 2,243

فایل این مقاله در 5 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

EASTTEHRANMECH01_122

تاریخ نمایه سازی: 2 اسفند 1389

چکیده مقاله:

مشکلات به وجود آمده در لوله کشی فلزی اعم از پوسیدگی، زنگ زدگی و تشکیل لایه هایی از انواع رسوبات در داخل لوله و همچنین افت فشار بالا، همواره متخصصان را در جهت جایگزینی لوله های مناسب بجای لوله های مذکور، تشویق کرده است. با توجه به مزایای لوله های چند لایه نسبت به لوله های فلزی و پلیمری تک لایه و کاربرد جدید و روز افزون آن در صنعت ساختمان، تست این لوله ها که منجر به تضمین کیفیت لوله و به تبع آن افزایش عمر و کیفیت ساختمان می گردد، مورد توجه قرار گرفته است. از جمله موارد مهم مربوط به لایه آلومینیوم در لوله های تلفیقی، درزجوش طولی آن می باشد. اگر لایه آلومینیوم بدون جوش استفاده شود تاثیر مهمی در استحکام لوله ها نخواهد داشت. این جوش غالبا به صورت لب به لب یا روی هم و با روش لیزر یا اولتراسونیک انجام می گردد. بی نقص بودن درز جوش نقش مهمی در استحکام لایه آلومینیوم دارد. تست جوش لایه آلومینیوم در این لوله ها از جمله موارد مهم در کیفیت آن می باشد. در این مقاله روش تست جریان گردابی با استفاده از سنسور مجاورتی القایی پیشنهاد گردیده است و نتایج حاصل از تست لوله پنج لایه و تشخیص عیب ارائه شده است

کلیدواژه ها:

لوله پنج لایهPEX-AL-PEX تست جریان گردابی ، سنسور القایی آنالوگ

نویسندگان

محمد ریاحی

دانشیار دانشکده مکانیک دانشگاه علم و صنعت،آزمایشگاه تست غیرمخرب

نفیسه ابراهیمی

دانشجوی کارشناسی ارشد، دانشگاه علم وصنعت، آزمایشگاه تست غیرمخرب

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • . S. Fericean, R. Droxler, "New Noncontacting Inductive Analog Proximity ...
  • . M. Jagiella, S. Fericean, _ M iniaturized Inductive Sensors ...
  • . K.Y Bae, J.H. Park _ study on development of ...
  • Technology 176 (2006) 11 1-1 16 ...
  • . Ph.A. Passeraub, P.-A. Besse, A. Bayadroun, S. Hediger, E. ...
  • CMOS readout circut and electrodepo sited 1 mm flat coil" ...
  • نمایش کامل مراجع