مطالعه نانو ساختار لایه نازک کروم انباشت شده توسط روش کندو پاش مغناطیسی

سال انتشار: 1389
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,173

متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

PHOTONICS03_089

تاریخ نمایه سازی: 30 آبان 1389

چکیده مقاله:

دراین مقاله مورفولوژی لایه های نازک کروم تحت شرایط دمایی مختلف مورد بررسی قرارگرفته است لایه نازک کروم به ضخامت های 90 نانومتر به روش کندوپاش مغناطیسی دردماهای مختلف 50، 100، 200 و 300 درجه سانتی گراد برروی زیرلایه شیشه ای انباشت شده است لایه های کروم به دست آمده به کمک میکروسکوپ روبشی انالیز شده اند در پایان نشان داده شده است که مطابق انتظار با افزایش دما ویژگیهای کیفی لایه مانند اندازه دانه بندی لایه بیشتر شده است.

نویسندگان

جهانبخش مشایخی اصل

مرکز ملی علوم و فنون لیزر ایران،تهران

زهرا شفیعی زاده

مرکز ملی علوم و فنون لیزر ایران،تهران

حسین ناهیدی

مرکز ملی علوم و فنون لیزر ایران،تهران

نازلی رحیم زاده

مرکز ملی علوم و فنون لیزر ایران،تهران

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • _ Gui _ aud-Massereau, A. Celerier, J. Machet, "Study and ...
  • S. N. Ganguli and D. Berk, _ effect of surface ...
  • K Petkov, _ :Characteristis of thin chromium films obtained _ ...
  • J.Mashayekhi, Z. Shafieizadeh, H.Heidari, J.Sabaghzadeh, "Surface roughness of smooth chrome ...
  • Peifeng Zhang, Xiaoping Zheng, Suoping Wu, Jun Liu, Deyan He, ...
  • Rand Dannenberg, U, Eric Stach, Joanna R. Groza, Brian J. ...
  • نمایش کامل مراجع