ناشر تخصصی کنفرانس های ایران

لطفا کمی صبر نمایید

Publisher of Iranian Journals and Conference Proceedings

Please waite ..
CIVILICAWe Respect the Science
ناشر تخصصی کنفرانسهای ایران
عنوان
مقاله

رشد و مشخصه یابی الکتریکی لایه نازک فریت بیسموت با استفاده از روش لایه نشانی لیزری

سال انتشار: 1389
کد COI مقاله: ICOPTICP17_337
زبان مقاله: فارسیمشاهد این مقاله: 790
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

خرید و دانلود فایل مقاله

متن کامل (فول تکست) این مقاله منتشر نشده و یا در سایت موجود نیست و امکان خرید آن فراهم نمی باشد.

مشخصات نویسندگان مقاله رشد و مشخصه یابی الکتریکی لایه نازک فریت بیسموت با استفاده از روش لایه نشانی لیزری

منصوره کریمی - پژوهشکده لیزر و پلاسما دانشگاه شهید بهشتی تهران
سیده مهری حمیدی - پژوهشکده لیزر و پلاسما دانشگاه شهید بهشتی تهران
محمدمهدی طهرانچی - پژوهشکده لیزر و پلاسما دانشگاه شهید بهشتی تهران

چکیده مقاله:

مواد مگنتوفروالکتریک به دلیل دارا بودن خواص الکتریکی و مغناطیسی قابل کنترل مورد توجه فراوان قرارگرفته است دراین تحقیق لایه نازک فریت بیسموت با کمک روش لایه نشانی لیزری تهیه شده و به کمک لایه نازک طلا پوشش پذیرفته است مشخصه یابی ساختاری سطح و پسماند الکتریکی این ترکیب با کمک طرح پراش پرتوایکس تصویربرداریمیکروسکوپ الکترونی و چیدمان اندازه گیری خواص الکتریکی مورد تحقیق قرارگرفته است نتایج به دست آمده بیانگر مفید بودن این ترکیبات در کاربردهای حافظه الکتریکی است.

کلیدواژه ها:

فريت بيسموت، لايه نشاني ليزري، پسماند الكتريكي

کد مقاله/لینک ثابت به این مقاله

برای لینک دهی به این مقاله می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت مقاله در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:

https://civilica.com/doc/105277/

نحوه استناد به مقاله:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
کریمی، منصوره و حمیدی، سیده مهری و طهرانچی، محمدمهدی،1389،رشد و مشخصه یابی الکتریکی لایه نازک فریت بیسموت با استفاده از روش لایه نشانی لیزری،هفدهمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران و سومین کنفرانس مهندسی فوتونیک ایران،تهران،،،https://civilica.com/doc/105277

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این مقاله اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (1389، کریمی، منصوره؛ سیده مهری حمیدی و محمدمهدی طهرانچی)
برای بار دوم به بعد: (1389، کریمی؛ حمیدی و طهرانچی)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود ممقالهقاله لینک شده اند :

  • H. Shen, J. Xu, A. Wu, J. Yu, Y. Liu, ...
  • K. Prashanthi, S.P. Duttagupta, R. Pinto and V.R Palkar, "Multiferroic ...
  • D. Huang, H. Deng, P. Yang, J. Chu, "Optical and ...
  • _ _ _ _ _ _ Laser Deposition! ...
  • مدیریت اطلاعات پژوهشی

    صدور گواهی نمایه سازی | گزارش اشکال مقاله | من نویسنده این مقاله هستم

    اطلاعات استنادی این مقاله را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

    علم سنجی و رتبه بندی مقاله

    مشخصات مرکز تولید کننده این مقاله به صورت زیر است:
    نوع مرکز: دانشگاه دولتی
    تعداد مقالات: 17,801
    در بخش علم سنجی پایگاه سیویلیکا می توانید رتبه بندی علمی مراکز دانشگاهی و پژوهشی کشور را بر اساس آمار مقالات نمایه شده مشاهده نمایید.

    مقالات پیشنهادی مرتبط

    مقالات مرتبط جدید

    به اشتراک گذاری این صفحه

    اطلاعات بیشتر درباره COI

    COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

    کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.

    پشتیبانی