بررسی امکان استخراج عوارض در مقیاس SubPixel از تصاویر سنجنده MODIS در محیطها با پس زمینه همگن

امروزه به دلیل اهمیت دسترسی به اطلاعات مکانی دقیق، جامع و روزانه عوارض و پدیده های مختلف که در گذر زمان از لحاظ مکان و ماهیت تغییر پیدا می کند به منظور پایش رفتار آن ها و امکان برنامه ریزی و تصمیم گیری در موارد مختلف، با افزایش دقت های مکانی،طیفی ورادیومتریکی سنجنده ها سعی در بهبود کارایی تصویربرداری ها شده است ولی همانطور که واضح است هر مرحله بهبود نیازمند صرف زمان و هزینه بالا می باشد و با در نظر گرفتن دوره های متفاوت وگاها طولانی در تصویربرداری از یک نقطه روی سطح زمین (توان تفکیک زمانی کم) که به دلیل کاهش FOV سنجنده ها (افزایش دقت مکانی )انجام می گیرد، مانیتورینگ روزانه بسیاری از عوارض خصوصا عوارضی که ابعاد کوچکتر از سایز پیکسل دارند ممکن نیست پس نیاز است تا حد امکان با به کارگیری متدهای استخراج عوارض از تصاویر با قدرت تفکیک پایین تر صورت گیرد که در این روش ها ابعاد عارضه و قدرت تفکیک مکانی سنجنده مورد استفاده شرط اساسی می باشد ، در این تحقیق سعی شده تا امکان آشکارسازی با بررسی حالت های مختلف ممکن از جمله محل قرارگیری شناور در تصویر، تصاویر اخذ شده در باندهای مختلف emission ,radiance ,reflectance ، وجود دو عارضه در کنار هم، اثر شعله بر عارضه مجاور، بررسی باند های نویزی، وجود یا عدم وجود شعله، استخراج تصاویر با مرکزیت عارضه و شعاع های 5 کیلومتر و 10 کیلومتر و بررسی حالت های مختلف با هم، عوارض غیر پیوسته (غیر (solid مانند سکو ها و عوارض solid مانند شناور ها در روز های مختلف سال مورد بررسی قرار گیرد.

کلیدواژه ها:

آشکارسازی ، MODIS ، Reflectance bands ، Subpixel