Probe the nano thin films by phase sensitive neutron reflectometry; A simulation aspect
محل انتشار: دومین کنفرانس نانوساختارها
سال انتشار: 1386
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: انگلیسی
مشاهده: 1,157
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
CNS02_121
تاریخ نمایه سازی: 11 اردیبهشت 1389
چکیده مقاله:
Neutron reflectometry is a powerful tool for research in nanostructured materials. It is a powerful technique for investigating surfaces and interfaces, thin films, nanostructures, biomembranes and magnetic films. Here, by a simulation model, we show that how it can be used to probe the nano thin films. It is shown that the data analyzing of neutron reflectivity leads to find the components of any thin film and their thicknesses
کلیدواژه ها:
نویسندگان
S.F Masoudi
Department of Physics, K.N. Toosi University of Technology