modeling and control of atomic force microscope cantilever beam, using piezoelectric
محل انتشار: هفدهمین کنفرانس سالانه مهندسی مکانیک
سال انتشار: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: انگلیسی
مشاهده: 1,706
فایل این مقاله در 5 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ISME17_293
تاریخ نمایه سازی: 20 فروردین 1389
چکیده مقاله:
Atomic force microscope (AFM) is one of the most important probe scanning microscopes applied for high resolution images from surface and pushing of nano particles.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
ardeshir karami mohammadi
assistant professor
reza kazemi esfeh
M.Sc student
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :