تکنولوژی نوین آزمون غیرمخرب با استفاده از امواج تراهرتز
محل انتشار: فناوری آزمونهای غیرمخرب، دوره: 2، شماره: 3
سال انتشار: 1397
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: فارسی
مشاهده: 650
فایل این مقاله در 8 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
JR_JNDTT-2-3_004
تاریخ نمایه سازی: 3 تیر 1398
چکیده مقاله:
در این پژوهش امکان ارزیابی مواد به صورت غیر مخرب با استفاده از امواج تراهرتز بررسی شد. برای این منظور نتایج حاصل از تعیین ابعاد عیوب مشخص روی نمونه-های الگوی ساخته شده از جنس آلومینیوم، پلکسی گلاس و سرامیک دی اکسید زیرکونیوم با نتایج حاصل از اندازه گیری های ابعادی با روش هایی نظیر ماشین اندازه-گیری مختصات، میکروایکس و ماشین اندازه گیری مرئی مقایسه گردید. جهت انجام پژوهش، بسته به ماهیت نمونه و اطلاعات مورد نیاز از دو چیدمان سیستم تصویربرداری تراهرتز عبوری و انعکاسی بر پایه ی سیستم طیف سنجی حوزه ی زمانی تراهرتز استفاده شد که در آن تولید و آشکارسازی پالسهای امواج تراهرتز با استفاده از یک لیزر فمتوثانیه انجام می شود. نتایج نشان داد آزمون غیرمخرب تراهرتز در تشخیص عیوب (عیوب سطحی بسیار کم عمق و عیوب مخفی در بافت نمونه) و اندازه گیری ها برتر از برخی روش های متداول ذکر شده است. در مجموع بسته به انتظار از آزمون و نوع عملکرد آن، روش تصویربرداری با امواج تراهرتز را می توان جزو آزمون های غیرمخرب قابل رقابت با روش های متداول دانست.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
فرزاد مرادیان نژاد
دانشگاه کاشان، دانشکده فیزیک، گروه لیزر و فوتونیک
حمیدرضا زنگنه
دانشگاه کاشان، دانشکده فیزیک، گروه لیزر و فوتونیک
امید پناهی
دانشگاه شهید بهشتی، موسسه ی تحقیقات لیزر و پلاسما
محسن گلزار شهری
سازمان انرژی اتمی ایران، شرکت سوخت راکتورهای هسته ای، صندوق پستی: ۱۹۵۷-۸۱۴۶۵
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :