بررسی روش های کاهش توان مصرفی در تست مدارات VLSI

سال انتشار: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 3,074

فایل این مقاله در 7 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

NEEC02_022

تاریخ نمایه سازی: 7 بهمن 1388

چکیده مقاله:

پیشرفت در تکنولوژی، موجب کاهش تدریجی اندازه محصولات گردیده و بنابراین به حداقل رساندن توان مصرفی در این محصولات، مشکل جدی برای طراحان از جمله مهندسین تست شده است. مرتب سازی دوباره بردار تست برای به حداقل رساندن توان پویا در خلال تست مدارهای ترکیبی، یکی از اهداف تست با توان کم می باشد. در این مقاله به بیان روش های مختلف و الگوریتم های متفاوت و بررسی نتایج تجربی آنها در شناسایی بهترین بردار تست پرداخته و مرتب سازی بردارهای تست به منظور حداقل رساندن فعالیت های سوئیچینگ در خلال تست انجام می پذیرد. به صورت تجربی الگوریتم پیشنهادی بین 20% تا 50% کاهش را در فعالیت سوئیچینگ مدارات ترکیبی خواهند داشت که موجب بهبود میزان توان مصرفی خواهد گردید.

کلیدواژه ها:

توان مصرفی استاتیک و دینامیک ، فعالیت سولیچینگ ، مرتب سازی دوباره بردار تست ، تستینگ ، stuck-at-fault

نویسندگان

امین امامی

دانشکده مهندسی برق- دانشگاه آزاد اسلامی واحد نجف آباد

شادی مودنی

دانشکده مهندسی کامپیوتر و فناوری اطلاعات- دانشگاه صنعتی امیرکبیر ( پل

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • V. Dabholkar, S. Chakravarty, I. Pomeranz, and S. Reddy. Techniques ...
  • A. Sokolov, A. Sanyal, D. Whitley, and Y. Malaiya. Dynamic ...
  • S. Chattopadhyay and N. Choudhary. Genetic Algorithm based Approach for ...
  • P. Flores, J. Costa, H. Neto, J. Monterio, and J. ...
  • Specified Pattern Sequences Targeting Minimum Power Dissipation. 12th International Conference ...
  • F. Corno, P. Prinetto, M. Rebaudengo, and M. S. Reorda. ...
  • Latypov P.K. Energy Saving Testing of Circuits. Automation and Remote ...
  • E. J. Anderson, C. A. Glass, and C. N. Potts. ...
  • P. Girard. Survey of Low-Power Testing of VLSI Circuits. IEEE ...
  • P. Girard, C. Landrault, S. Pravo ssoudovitch, and D. Severac. ...
  • P. Flores, J. Costa, H. Neto, J. Monteiro, and J. ...
  • H. Hashempour and F. Lombardi. Evaluation of Heuristic Techniques for ...
  • K. Deb, A. Pratap, S. Agarwal, and T. Meyarivan. A ...
  • نمایش کامل مراجع