تاثیر آلاینده های Ga ،Al و In بر خواص اپتیکی لایه های نازک نانو متری اکسید روی (ZnO) تهیه شده به روش اسپری پایرولیزیز
محل انتشار: کنفرانس فیزیک ایران 1388
سال انتشار: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 942
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
IPC88_402
تاریخ نمایه سازی: 28 دی 1388
چکیده مقاله:
در این مقاله به بررسی خواص اپتیکی لایه های نازک اکسید روی با 3% از ناخالصی های In ،Gaو Al به روش اسپری پایرولیزیز روی زیر لایه شیشه تهیه شده است پرداخته ایم اندازه گیری های طیف عبوری نشانگر آن است که طیف عبوری مربوط به نمونه آلایش شده با Al بیشترین و نمونه آلایش شده با In کمترین میزان عبور را در ناحیه مرئی داراست. همچنین با توجه به محاسبات انجام شده مبتنی بر مدلهای فیزیکی شناخته شده دریافتیم: ( الف) گاف نواری در این ماده که به صورت مستقیم می باشد با وارد کردن ناخالصی از 3/18 به 3/32 الکترون ولت افزایش می یابد؛ (ب) عرض دنباله نواری، متناظر با انرژی اورباخ، در محدوده 400 تا 200meV تغییر می کند.
نویسندگان
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :