بررسی طیف جذبی و بازتابی لایه های نازک TiO2-SnO2 بر روی زیر لایه Al / شیشه وشیشه با درصدهای ترکیبی متفاوت
محل انتشار: کنفرانس فیزیک ایران 1388
سال انتشار: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,838
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
IPC88_219
تاریخ نمایه سازی: 28 دی 1388
چکیده مقاله:
ساخت حسگرهای گازی اکسیدهای نیمرسانا برای شناسایی گازهای سمی و اشتعال زا در محیط زیست و صنعت دارای اهمیت زیادی می باشد. به همین منظور از TiO2 و SnO2 برای شناسایی گازهایی چون CO و H2 و O3 استفاده میشود. از این اکسیدها در رطوبت سنجی هم استفاده میشود. در این مقاله TiO2 و SnO2 روی زیرلایه شیشه شفاف و Al/ شیشه با استفاده ازشیوهی تبخیر در خلا لایهنشانی شدند. نسبت درصدوزنی TiO2 به SnO2 به کار رفته 50/50 و 10/90 میباشد. نمونه ها در اتمسفر در دمای 400 درجه سانتیگراد بازپخت شدند. طیف جذبی و بازتابی توسط اسپکترو متر اندازه گیری شد. بررسی طیف های لایه های نازک در میزان جذب یا بازتاب گازهای فوق موثر است.
نویسندگان
محمدهادی ملکی
پژوهشکده لیزر و اپتیک، پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای، تهران
غضنفر میر جلیلی
دانشکده علوم پایه دانشگاه یزد
هاشم حجتی راد
پژوهشکده لیزر و اپتیک، پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای، تهران
نرگس بیگ محمدی
دانشکده علوم پایه دانشگاه یزد
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :