ساخت لایه نازک Ag:TiO2 و بررسی خواص الکتریکی و اپتیکی آن
محل انتشار: کنفرانس فیزیک ایران 1387
سال انتشار: 1387
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 998
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
IPC87_290
تاریخ نمایه سازی: 24 آذر 1388
چکیده مقاله:
در این پژوهش ابتدا لایه نازک Ag:TiO2 با روش تبخیر در خلاء (PVD) توسط تفنگ الکترونی در دمای200 درجه سانتیگراد و فشار(فرمول در متن اصلی موجود می باشد) تور، ساخته شد.چشمه لایه نشانی مرکب از 1 قسمت Ag و 19 قسمت TiO2 بود. ضخامت نهائی لایه ساخته شده 20 نانومتر بود. با بررسی نمودار طیف جذبی ، میزان گاف انرژی 3.8 ev بدست آمد. همچنین نمودار ضریب جذب A نسبت به طول موج بیشترین میزان ضریب جذب را در 700 نانومتر نشان داد. نمودارهای I-V حاکی از رفتار اهمی این ماده بود.