اثر تراکم مس روی گاف انرژی نانو لایه های ZnS:Cu

در این پژوهش به سنتز و آنالیز ساختاری و اپتیکی نمونه های نانوساختار سولفید روی و سولفید روی آلاییده با مس میپردازیم. مطالعه ساختاری نمونه ها وجود طیف پهن مشخصه سولفید روی زینک بلند که به دلیل بسیار نازک بودن فیلم ها شکل آمورف آن غالب است را نشان میدهد. وجود یونهای مس تغییر محسوسی در طیف XRD سولفید روی آلاییده را باعث میشود. مطالعه UV-Visible نمونه ها حکایت از آن دارد که تراکم 1/5 درصد وزنی مس بهترین نتیجه را برای باریک تر کردن گاف انرژیZnS آلاییده بدست می دهد.

کلیدواژه ها:

لایه های نازک سولفید روی ، اسپری پایرولیز ، گاف انرژی ، UV-Visible پراش پرتو ایکس