ارایه یک روش بهینه لغو خطای آفست برای مقایسه گرهای CMOS با تکنولوژی 0/18 میکرون در مبدلهای دادی آنالوگ به دیجیتال نوع فلش

در این پژوهش، به ارایه یک روش بهینه به منظور لغو خطای آفست در مقایسه گرهای مورد استفاده در یک مبدل دادهی آنالوگ به دیجیتال فلش می پردازیم، به نحوی که ضمن لغو این خطا، عملکرد نهایی مقایسه گر را بهبود ، ببخشد و اثر منفی بر سایر پارامترهای مقایسه گر نظیر Slew Rate پایداری، نرخ تبدیل و ... نداشته باشد. در این پژوهش با بهره گیری از مدار پیش تقویت کننده به همراه لچ تا حد قابل توجهی بهبود بخشیده شده. به منظور شبیه سازی، پیاده سازی و ارزیابی سیستم ارایه شده، از نرم افزار Hspice استفاده میشود. همچنین در انجام پژوهش، بسته CMOS استاندارد نوع 0.18pm شرکت TSMC مورد استفاده قرار می گیرد.