ناشر تخصصی کنفرانس های ایران

لطفا کمی صبر نمایید
CIVILICAWe Respect the Science
ناشر تخصصی کنفرانسهای ایران
عنوان
مقاله

تاثیر دمای بازپخت بر ریز ساختار و خواص الکتریکی لایه های نازک ZnO تهیه شده به روش سل - ژل

تعداد صفحات: 6 | تعداد نمایش خلاصه: 114 | نظرات: 0
سال انتشار: 1392
کد COI مقاله: SCMI21_145
زبان مقاله: فارسی
(فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد)

راهنمای دانلود فایل کامل این مقاله

اگر در مجموعه سیویلیکا عضو نیستید، به راحتی می توانید از طریق فرم روبرو اصل این مقاله را خریداری نمایید.

با عضویت در سیویلیکا می توانید اصل مقالات را با حداقل ۳۳ درصد تخفیف (دو سوم قیمت خرید تک مقاله) دریافت نمایید. برای عضویت در سیویلیکا به صفحه ثبت نام مراجعه نمایید.در صورتی که دارای نام کاربری در مجموعه سیویلیکا هستید، ابتدا از قسمت بالای صفحه با نام کاربری خود وارد شده و سپس به این صفحه مراجعه نمایید.

لطفا قبل از اقدام به خرید اینترنتی این مقاله، ابتدا تعداد صفحات مقاله را در بالای این صفحه کنترل نمایید.

برای راهنمایی کاملتر راهنمای سایت را مطالعه کنید.

خرید و دانلود فایل مقاله

با استفاده از پرداخت اینترنتی بسیار سریع و ساده می توانید اصل این مقاله را که دارای 6 صفحه است در اختیار داشته باشید.

قیمت این مقاله : 7,000 تومان

آدرس ایمیل خود را در کادر زیر وارد نمایید:

مشخصات نویسندگان مقاله تاثیر دمای بازپخت بر ریز ساختار و خواص الکتریکی لایه های نازک ZnO تهیه شده به روش سل - ژل

مهدی فلاح - دانشگاه علم و صنعت ایران ، دانشکده فیزیک ، نارمک ، تهران
سیدروح الله عقدایی - دانشگاه علم و صنعت ایران ، دانشکده فیزیک ، نارمک ، تهران

چکیده مقاله:

در این تحقیق خواص ساختاری و الکتریکی لایه های نازک اکسید روی تهیه شده به روش سل-ژل مورد بررسی قرار گرفت. نمونه ها بعد از سه بار لایه نشانی در دماهای مختلف بازپخت شدند. با استفاده از تحلیل پهن شدگی خطوط پراش پرتوهای X ، اندازه بلورکها و چگالی دررفتگی نمونه های ZnO استخراج شدند. ریخت شناسی نمونه ها نیز با استفاده از تصاویر SEM مورد بررسی قرار گرفت. با استفاده از ماسک مخصوص و دستگاه کندوپاش، الکترود از جنسس طلا روی نمونه ها حک و بستگی مقاومت دو سر الکترودها به دمای بازپخت نمونه ها مورد بررسی قرار گرفت.

کلیدواژه ها:

اكسيد روي ، ساختار و نواقص شبكه بلوري ، لايه نازك ، دماي بازپخت ، خواص الكتريكي

کد مقاله/لینک ثابت به این مقاله

برای لینک دهی به این مقاله می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت مقاله در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:

https://civilica.com/doc/746599/

کد COI مقاله: SCMI21_145

نحوه استناد به مقاله:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
فلاح، مهدی و عقدایی، سیدروح الله،1392،تاثیر دمای بازپخت بر ریز ساختار و خواص الکتریکی لایه های نازک ZnO تهیه شده به روش سل - ژل،بیست و یکمین همایش بلور شناسی و کانی شناسی ایران،زاهدان،،،https://civilica.com/doc/746599

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این مقاله اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (1392، فلاح، مهدی؛ سیدروح الله عقدایی)
برای بار دوم به بعد: (1392، فلاح؛ عقدایی)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

مدیریت اطلاعات پژوهشی

صدور گواهی نمایه سازی | گزارش اشکال مقاله

اطلاعات استنادی این مقاله را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

علم سنجی و رتبه بندی مقاله

مشخصات مرکز تولید کننده این مقاله به صورت زیر است:
نوع مرکز: دانشگاه دولتی
تعداد مقالات: 20,504
در بخش علم سنجی پایگاه سیویلیکا می توانید رتبه بندی علمی مراکز دانشگاهی و پژوهشی کشور را بر اساس آمار مقالات نمایه شده مشاهده نمایید.

مقالات مرتبط جدید

به اشتراک گذاری این صفحه

اطلاعات بیشتر درباره COI

COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.

پشتیبانی