بررسی گروه های عاملی ایجاد شده بر سطح نانولوله کربن با استفاده از تکنیک های طیف سنجی رامان ،(Raman spectroscopy) طیف سنجی مادون قرمز (FTIR) و آنالیز توزین حرارتی (TGA)

یکی از روش های اکسیدی کردن سطح مواد در علم مواد ، ایجاد گروه های عاملی با استفاده از روش های شیمیایی می باشد . تاکنون چندین محقق از این روش ها جهت بهبود برهم کنش و دیسپرز شدن مواد در محیط های مورد نظر استفاده کرده اند. در کار حاضر با استفاده از روش شیمیایی، گروه های عاملی مختلفی بر سطح نانو لوله کربن ایجاد شد . بدین منظور از محلول های اسیدی شامل، اسید نیتریک / اسید سولفوریک و اسید نیتریک / اسید سولفوریک / اسید کلریدریک استفاده گردید. جهت تشخیص گروه های عاملی از تکنیک های طیف سنجی رامان (Raman spectroscopy) ، طیف سنجی مادون قرمز (FTIR) و انالیز توزین حرارتی (TGA) استفاده شد. با استفاده از این تکنیک ها مشاهده شد که گروه های عاملی کربوکسیلیک (–COOH) و هیدروکسیل (-OH) بر روی سطح نانو لوله ها کربن تشکیل شده است.

کلیدواژه ها:

نانو لوله کربن ، گروه های عاملی ، طیف سنجی رامان ، آنالیز حرارتی افتراقی ، طیف سنجی مادون قرمز