تهیه ی لایه های نازک اپتیکی نانومتری و اندازه گیری ضخامت آن ها به روش تداخل سنجی مایکلسون
- سال انتشار: 1387
- محل انتشار: پانزدهمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران
- کد COI اختصاصی: ICOPTICP15_105
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 4586
نویسندگان
گروه فیزیک ، دانشکده علوم ، دانشگاه اصفهان ،
گروه فیزیک ، دانشکده علوم ، دانشگاه اصفهان ، گروه پژوهشی اپتیک کوانتو
گروه فیزیک ، دانشکده علوم ، دانشگاه اصفهان ،
گروه فیزیک ، دانشکده علوم ، دانشگاه اصفهان ،
چکیده
به تهیه لایه های اپتیکی نانومتری شفاف و غیر شفاف پرداختیم دستگاه مورد استفاده قادر به اندازه گیری ضخامت به صورت بلادرنگ با کریستال کوارتز می باشد که جهت زینه بندی کردن آن به اندازه گیری ضخامت لایه ها به روش اپتیکی نیز پرداخته شد لایه های با ضخامت nm30 به صورت پله بر روی زیر لایه شیشه قرار داده شد پله تشکیل شده در مکان یکی از آیینه های تداخل سنج مایکلسون نصب شد و با ثبت جابجایی نقش فرانژهای ایجاد شده بر روی CCD و اندازه گیری جابجایی فرانژها ضخامت پله تشکیل شده بدست آمد که در توافق خوبی با داده ناشی از بلور می باشدکلیدواژه ها
تداخل سنجی ، ضخامت سنجی ، لایه نازک ،مقالات مرتبط جدید
- بررسی خطای کنتورهای دیجیتال در اندازه گیری انرژی الکتریکی تحت شرایط اغتشاشات هارمونیکی
- عمرسنجی غیرمخرب روغن ترانسفورماتور از طریق امواج مایکروویو
- ارزیابی قابلیت اطمینان سیستم های قدرت در حضور مزارع بادی و برنامه های پاسخگویی بار
- کنترل بهینه فیلتر اکتیو در شبکه های توزیع بر مبنای آشکارسازی جریان راکتیو
- دسته بندی و تحلیل عوامل خطا بر اساس تکنیک خوشه بندی در شبکه توزیع برق
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.